日本sem公司
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
Serial Block-face SEM 3View肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与View®2XP（Gatan公司制造）结合使用，能对样品进行自动切割，自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构，可以对精细结构进行三维分析。产品特点：肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与3View®2XP（G......
产品特点：肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与3View®2XP（Gatan公司制造）结合使用，能对样品进行自动切割，自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构，可以对精细结构进行三维分析。系统简介JSM-7100F、7800F和3View®2XP（Gatan产品）组合使用，能获得大量的大范围的切片图像。这样就能够进行数百微米区......
系统简介JSM-7100F、7800F和3View®2XP（Gatan产品）组合使用，能获得大量的大范围的切片图像。这样就能够进行数百微米区域的三维重构。通过三维重构能够观察二维图像上无法看到的细胞的深处结构。操作 自动、反复地切割样品和获取图像，能获得大量的切片图像。 对获得的切片图像，通过软件进行堆叠、调节、生成三维图像。应用数据 小......
应用数据 小鼠大脑 突触细分数据黄色区域：突触囊泡绿化面积：突触后部增厚部分红色区域：突触后部样品: 承蒙瑞典隆德大学医学系生物成像中心的Deniz Kirik 和 Lina Gefors教授产品规格：JSM-7100FJSM-7800F分辨率1.2nm (30kV)、3.0nm (1kV)0.8nm (15kV)、1.2nm (1kV)加速电压0......
产品规格：JSM-7100FJSM-7800F分辨率1.2nm (30kV)、3.0nm (1kV)0.8nm (15kV)、1.2nm (1kV)加速电压0.5～30kV0.01～30kV放大倍率x 10～1,000,000x 25～1,000,000 3View®2XP切割厚度15～200nm (生物类样品 25～50nm)切割速度0.1～1.......
产品特点：双束加工观察系统 JIB-4700F能进行高分辨观察、高速分析、高速加工的FIB/SEM 装置。随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨率和精度有了更高的要求。为了满足这些需求，JEOL推出新一代双束加工观察系统JIB-4700F。 该设备的SEM镜筒中采用了超级混合圆锥形物镜、GB模式和in-l......
点击查看下载日本电子扫描电镜Serial Block-face SEM 3View 观察和分析磁性样品相关资料，进一步了解产品。 JEOL热场发射扫描电镜的无漏磁物镜设计，使得观察和分析磁性样品变得非常容易，即使是磁性粉末或者磁性极强的样品也没有问题。 应用数据 小鼠大脑 突触细分数据黄色区域：突触囊泡绿化面积：突触后部增......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......