超分辨荧光显微镜原理

HORIBA Scientific(Jobin Yvon光谱技术)作为荧光光谱仪的全球领导者,可以提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种耦联技术的解决方案。HORIBA Scientific从上世纪70年代开始一直专注于TCSPC系统的开发,并始终保持着荧光系统设计和生产领域的世界领导地位。基于四十年的寿命系统研发和生产经验,新一代荧光寿命测试系统DeltaF......

仪器简介:    HORIBA Scientific(Jobin Yvon光谱技术)----荧光光谱仪器的全球领导者,提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。    新一代荧光寿命测试系统-DeltaPro,其独一无二的高性能以及简单实用的特点,对TCSPC系统有了新的定义。HORIBA科学仪器部从上世......

奥林巴斯倒置显微镜IXplore SpinSR超高分辨率通过共聚焦技术和奥林巴斯的超高分辨率 (OSR),可以 120 nm XY 的分辨率解析清晰图像。快速成像通过转盘共聚焦快速成像和快速超高分辨率处理可实现样本的实时显示。 因为 3D 中的光毒性和光漂白降低,共聚焦延时成像期间的细胞存活时间变长。多模用户可在 3 个模式(宽场、共聚焦和超高分辨率)之间轻......

超快速成像:拉曼成像从未有如此之快!LabRAM Soleil的光学稳定性加上专利保护的显微图像-拉曼匹配精度,使得高质量拉曼成像速度可以提高100倍以上 √ SmartSampling™:基于新的成像法则,首先获取信号贡献多的样品点信号,将成像时间由几小时缩短为几分钟 √ TurboDrive™:光栅快速驱动,快至4......

结合先进的超高时间分辨TCSPC电子系统(<400fs/pt),并配合多种即插即用的高频脉冲光源和高度集成化的检测技术,整机配置灵活,满足<5ps短寿命测试要求,成为科研深入应用开发的高效利器。产品特点超短寿命测试:<5ps(配合飞秒激光器和MCP检测器)磷光分辨率:<42ns综合分析软件,5指数寿命拟合高稳定性设计,使用维护简单高度......

卓立汉光超快时间分辨光谱测试系统

参考成交价格: 暂无

卓立汉光 其它光谱仪

型号:超快时间分辨光谱测试系统

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系统主要功能指标:宽光谱测量范围:UV-VIS-NIR, 200-900nm;高系统时间分辨率: <=5ps寿命衰减测量时间范围:<=50ps—100us 高系统光谱分辨率: <0.1nm宽单次成谱范围:  >=200nm静态(稳态)光谱采集,瞬态时间分辨光谱图像及荧光寿命曲线系统集成......

卓立汉光超快时间分辨光谱测试系统 应用于超快物理发光领域系统主要功能指标:宽光谱测量范围:UV-VIS-NIR, 200-900nm;高系统时间分辨率: <=5ps寿命衰减测量时间范围:<=50ps—100us 高系统光谱分辨率: <0.1nm宽单次成谱范围:  >=200nm静态(稳......

卓立汉光超快时间分辨光谱测试系统 应用于超快化学发光领域系统主要功能指标:宽光谱测量范围:UV-VIS-NIR, 200-900nm;高系统时间分辨率: <=5ps寿命衰减测量时间范围:<=50ps—100us 高系统光谱分辨率: <0.1nm宽单次成谱范围:  >=200nm静态(稳......

超快时间分辨光谱测试系统

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卓立汉光 高光谱仪/高光谱成像仪

型号:超快时间分辨光谱测试系统

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系统主要功能指标:宽光谱测量范围:UV-VIS-NIR, 200-900nm; 高系统时间分辨率: <=5ps 寿命衰减测量时间范围:<=50ps—100us  高系统光谱分辨率: <0.1nm 宽单次成谱范围:  >=200nm 静态(稳态)光谱采集, 瞬态时......

卓立汉光超快时间分辨光谱测试系统 应用于超快放电过程领域系统主要功能指标:宽光谱测量范围:UV-VIS-NIR, 200-900nm;高系统时间分辨率: <=5ps寿命衰减测量时间范围:<=50ps—100us 高系统光谱分辨率: <0.1nm宽单次成谱范围:  >=200nm静态(稳......