eds 谱仪
仪器简介：DataStick极谱法溶氧采用克拉克（Clark）膜技术，由金阴极、银阳极和银参考电极组成三传感器系统。对银参考传感器采用恒定的电压进行极化，起到了稳定测量值的作用，避免了传统两传感器系统的干扰，并有效降低了测量中的漂移。独特的薄膜结构使传感器探头非常耐用。 溶解氧探头采用了一体化可更换的膜头组件，每个组件已经预装好膜片、电解液，简化了......
重新构想的大批量自动化 S/TEM 成像和测量技术成像和计量技术快速、准确的数据精准的数据。Metrios DX 是一款彻底重新设计的 80-200 kV 扫描 / 透射电子显微镜，能够以前所未有的吞吐量提供基于 TEM 和 S/TEM 的、可重复的成像、分析和可测量计量结果。Thermo Scientific™ Metrios™ DX TEM 将成熟的技术......
布鲁克新一代 QUANTAX EDS 采用XFlash® 6探测器系列，探测器的有效面积为 10 至 100 mm2。第 6 代 EDS 提供硬件和软件技术，以实现最快、最可靠的结果：节省时间 - 拥有细管径技术的新型探测器、大面积硅漂移探测器、可控制多个探测器以及具有高性能的脉冲处理器，更快地完成工作节省工作量 - ......
TEM、STEM 和 SEM （T-SEM） 中纳米尺度的 EDS 元素面分析清晰的多功能测量装置和细管径几何构型可确保在常规基础上快速可靠的采集 TEM EDS 数据。使用 HyperMap 或谱图获取高光谱成像，我们的软件保存每个像素的谱图和定量分析所需的所有元数据，用于之后的检测和处理。适合不同电子显微镜极靴类型的的 EDS 细管径设计和优化的EDS ......
easyXAFS台式X射线吸收精细结构谱仪XAFS/XES 适用于台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS项目，参考多项行业标准Tailoring Energy and Power Density through Controlling the Concentration of Oxygen Vacancies in V2O5/PEDOT Nanocable B......
easyXAFSEDSXAFS/XES 用于测定V2O5纳米纤维，符合行业标准Tailoring Energy and Power Density through Controlling the Concentration of Oxygen Vacancies in V2O5/PEDOT Nanocable Based Supercapacitors. A......
easyXAFSEDSXAFS/XES 适用于台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS项目，参考多项行业标准Tailoring Energy and Power Density through Controlling the Concentration of Oxygen Vacancies in V2O5/PEDOT Nanocable Based Super......
产品规格：能量分辨率0.3eV（Al-L 光谱图73eV处测试）获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区50-170eV获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区70-210eV分光谱仪艙安装位置：EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右侧）FE-SEM的WDS接口（正面左后侧）分光谱仪尺寸 W 168mm×D 348mm ×H 683mm* 从接口包括CC......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......
UltraDry EDS 检测器Thermo Scientific™ UltraDry EDS 检测器具备卓越的分辨率和不可思议的高采集率，可提供更快、更精确的 X-射线分析。产品概述Thermo Scientific™ UltraDry EDS 检测器可为金属、采矿、先进材料和半导体等行业提供更快、更精确的 X 射线分析，并且能为 Thermo Scien......