eds检测
Octane Elect EDS 系统Octane Elect EDS 系统是一款增强型能量色散谱 (EDS) 平台，融入了最新硅漂移探测器 (SDD) 技术和高速电子元件。Octane Elect EDS 系统专为在入门级系统基础上具有更高性能及功能需求的用户量身打造，在最优值下具有十分出色的分辨率和较高的通量，拥有卓越的低能量灵敏度，可实现轻元素检测和低......
适用于 TEM 的 Octane SDD 系列EDAX 用于 TEM 的 Octane SDD 系列是全球首款实现完全集成的透射电子显微镜 SDD。数据采集和信号处理电子元件被完全集成到探测器中。集成探测器考究的设计，不仅使性能得到提升，便于安装，还可通过几乎任何计算机借助以太网轻松实现远程访问。EDAX 的 TEAM™ EDS 系统配备了用于透射电子显微镜......
Octane Elite EDS 系统Octane Elite SDD 的颠覆性进展将探测器技术提升至一个全新高度。此系列探测器采用了新型氮化硅 (Si3N4) 窗口，使轻元素检测和低 kV 微区分析中的低能段灵敏度有了显著改善。此外，Octane Elite EDS 系统还采用了先进电子元件，可在更小的全真空封装探测器装置内实现高速 X 射线数据处理。Oc......
牛津仪器EDSX-MaxN可以用在高分子材料行业领域，用来检测Polymer Materials，可完成Polymer Materials项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 层状聚合物结构的成像与失效分析 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着：低束流下有足够的计数率尽可能高的实现图像的可......
牛津仪器EDSX-MaxN适用于Power Semiconductors项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品。可应用于高分子材料行业领域。 半导体制造解决方案 仪器简介：X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可用于测定Minerals and Metals，适用于Minerals and Metals项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于高分子材料行业领域。 工艺矿物学与化学分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨......
牛津仪器EDSX-Max TEM可以用在生物质材料行业领域，用来检测Microstructure and Mechanical Properties，可完成Microstructure and Mechanical Properties项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 添加剂生产 X-MaxN 80T用于TEM 的X-M......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可用于测定Pollutant Particles，适用于Pollutant Particles项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于电子/半导体行业领域。 监测和过程控制 仪器简介：X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN用于测定Microstructure and Mechanical Properties，符合行业标准Oxford Instruments。适用Microstructure and Mechanical Properties项目。 添加剂生产 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着：......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM适用于Metals alloys and ceramics项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Metals alloys and ceramics等样品。可应用于高分子材料行业领域。 材料成分和结构 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓......