尼康 光学

P-7 Stylus Profiler产品描述P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7......

mini 桌上型主动式隔振台全新设计,更易使用,卓越的隔振性能。重要特征*空间6自由度主动减振-拥有全频段出色的抗振动效果,同时没有共振*LCD-加速度时间波形显示/加速度频谱显示*洁净室兼容设计-封闭式铝制机身与台面,避免带入污染/无需压缩空气*自动调平与固定-一键操作,切换自动调平和运输固定模式*USB接口-通过USB通信,可在遥控器上输出振动波形,观察......

F54薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘       Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米,可选择数十种内建之同心圆,矩形,或线性图案模式,或自行建立无数量限制之测量点.仅需具备基本电脑技能的任何人可在数......

  EST 主动式防震系统来自日本马自达集团下全资子公司 KURASHIKI ,有着超过 30年历史的已成为主动隔振系统供应商的,且在这个领域上有着相当丰富的经验。于此同时 KURASHIKI 测量技术取得了巨大的进步,一些灵敏度很高的仪器可能是一个自然谐振频率的被动系统,只有主动隔振系统才能消除共振。 KURASHIKI 通过在发展主动......

纳米力学测试仪 iMicro灵活易用的力学测试可广泛用于各种材料和应用iMicro专为压痕、硬度、划痕测试和多元化纳米级测试等纳米级力学测试设计。iMicro具有多量程加载驱动器,实现在宽泛的荷载和位移的范围内进行测量。iMicro能够测试包括软质高聚物到硬质涂层和薄膜等在内的各种材料。模块化系统选项可以完成各种不同应用:特定频率测试、定量划痕和磨损测试、集......

R50电阻率测量仪FilmetricsR50系列提供两种测量方式:接触式四点探针(4PP)和非接触式涡流(EC)测量。R50能够以1点/秒的速度测量导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台可使用通用或定制样品架,适用于最大300mm的样品和200mm的面积。新型的R50系列具有四点探头和涡流探测系统,可测量导电薄层和半导电膜的电阻,X-Y行程可达200mm,......

R50电阻率测量仪FilmetricsR50系列提供接触式四点探针(4PP)和非接触式涡流(EC)测量。R50以快1点/秒的速度映射导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台使用你准缩厂收益或定制制样品架,大可测量300mm的样品,大可测量200mm的面积。新!R50系列四点探头和涡流探测系统以矩形,线性,极性和自定义配置X-Y行程大200mm测量十年的范围导......

F54-XY-200薄膜厚度测量仪能够利用先进的光谱反射系统,快速、轻松地测量大尺寸200x200mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台可以自动移动到选择的测量点,并提供每秒两点的快速厚度测量。您可以从数十种预定义的极性、矩形或线性测量坐标图案中进行选择,也可以创建自己不受限制的测量点。这个桌面系统的设置只需几分钟,任何具有基本计算机技能的人都可以使用。F54-......

F54-XY-200薄膜厚度测量仪是一种自动薄膜厚度测绘系统。它采用先进的光谱反射系统,能够快速、轻松地测量大200x200mm样品的薄膜厚度。配备电动XY工作台,可自动移动到选定的测量点,并提供每秒两点的快速厚度测量。用户可以从数十种预定义的极性、矩形或线性测量坐标图案中进行选择,也可以创建自己编辑的不受限制的测量点数量。该桌面系统只需几分钟即可完成设置,......

F54-XY-200薄膜厚度测量仪是一款自动薄膜厚度测绘系统。它采用先进的光谱反射系统,可以快速轻松地测量大200x200mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台能够自动移动到选定的测量点,并提供快速的厚度测量,达到每秒两点的速度。用户可以从数十种预定义的极性、矩形或线性测量坐标图案中进行选择,也可以创建自己编辑的不受限制的测量点数量。这款桌面系统只需几分钟即可完......