sem hitachi su8000
SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使用更方便的颗粒物分析系统。结合大面积能谱的高速及高灵敏性优势，整合于高性能强易用的AZtecEDS 分析平台中，当之无愧成为目前市场上zei先进的颗粒物分析检测系统。使用AZtecFeature经典导航模式，即使初学者也可以快速方便的获得整个样品中几......
SEM高温疲劳试验机是带扫描电子显微镜的疲劳试验机。用于在疲劳试验过程中动态时实观测样品表面的微观破坏。可进行拉-拉、拉-压、三点弯曲疲劳试验及800℃以下的高温试验。 特 点：· 电子显微镜SEM与试验机采用一体化结构，具有高防振效果。· 可以在利用SEM观察的同时，进行裂纹扩展观察试验。· 可以在常温～800℃温度范围内，重复向样品......
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式，并可灵活配置，多种配件选项能够满足各种需求。学术和工业研究实验室需要利用现代化SEM从最广泛的样品中获得大量数据，并获得出色的图像质量。同时，由于多数实验室均为多人操作或管理设备，SEM要......
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
TKD样品座是专为超薄样品设计，易于固定且符合光学原理。置于SEM中，即可使用AZtec EBSD系统轻松方便的实现高分辨的EBSD分析。专为TKD分析的样品座，TKD即透射菊池花样演示分析（Transmission Kikuchi Diffraction）技术，是最新用于检测仅十几纳米尺度的EBSD分析方法，空间分辨率比传统技术提高一个数量级。该......
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日立2011年新推出了SU9000新型超高分辨冷场发射扫描电镜，达到扫描电镜高二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改进的真空系统和电子光学系统，不仅分辨率性能明显提升，而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作，可以高效率的快速获取样品超高分辨......