hitachi tem
X-MaxN 80T用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术，是一款真正的“新一代”SDDX-Max N TEM探测器采用新的低噪声探测器设计，具有出色的分辨率和灵敏度 - 即使在高计数率下也是如此X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和......
产品描述 Talos L120C 是 Tecnai Spirit 的后继者，一种具有全新设计和操作概念的新型 120 kV 扫描/透射电子显微镜（S/TEM）。凭借光学稳定性、使用便宜性的提升以及更快更准的放大过程带来的高通量，120 kV 电子显微镜向未来迈进了一大步。 Talos L120C ......
适用于 TEM 的 Octane SDD 系列EDAX 用于 TEM 的 Octane SDD 系列是全球首款实现完全集成的透射电子显微镜 SDD。数据采集和信号处理电子元件被完全集成到探测器中。集成探测器考究的设计，不仅使性能得到提升，便于安装，还可通过几乎任何计算机借助以太网轻松实现远程访问。EDAX 的 TEAM™ EDS 系统配备了用于透射电子显微镜......
牛津仪器EDSX-Max TEM可用于测定Polymer Materials，适用于Polymer Materials项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于生物质材料行业领域。 聚合物添加剂分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获得高输出效率与......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM适用于Pore Fluids项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Pore Fluids等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 岩芯分析 X-MaxN 80T用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术，是一款真正的“新一代”SDDX-Max ......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可以用在电子/半导体行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 半导体制造解决方案 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在......
牛津仪器EDSX-Max TEM参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Construction Materials的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的Construction Materials项目。 机械及电学性能 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM用于测定Microstructure and Mechanical Properties，符合行业标准Oxford Instruments。适用Microstructure and Mechanical Properties项目。 添加剂生产 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设......
牛津仪器EDSX-Max TEM可以用在生物质材料行业领域，用来检测Microstructure and Mechanical Properties，可完成Microstructure and Mechanical Properties项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 添加剂生产 X-MaxN 80T用于TEM 的X-M......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可以用在电子/半导体行业领域，用来检测 Li-Ion battery，可完成Identifying contaminants in Li-Ion battery production using AZtecFeature项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 Lithium Ion batterie......