表面形貌测试仪
岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列参考多项行业标准/ VBA。完成玻璃 的检测。可以用在多个行业领域中的 玻璃表面气泡区域的形貌及元素分析 项目。 采用SPM和EPMA技术观测玻璃表面的缺陷类型及缺陷处的元素分布，对玻璃生产加工工艺及质量控制可以起到一定的指导作用。 先进的分析本领与优越的操作性能融为一体！前沿科技，隆重登场。高灵敏度 ·&......
国仪量子比表面F-Sorb X400CES可以用在电池/锂电池行业领域，用来检测电子陶瓷，可完成形貌结构项目。符合多项行业标准。 可进行P/P0在0.03~0.98范围内介孔段的孔径分布及总孔体积分析测试专利技术的直管式石英样品管中国实用新型专利：一种气相色谱动态法比表面积测试装置；专利号：ZL202120620155.0突破性地采用直管式样品管（与静态法......
中图仪器SuperViewW白光干涉表面微观形貌检测系统基于白光干涉原理，通过干涉物镜产生干涉条纹，使基本的光学显微镜系统变为白光干涉轮廓仪。它能以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）Supe......
WD4000晶圆表面形貌量测系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP......
中图仪器NS系列接触式表面形貌台阶仪线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。产品功能1.参......
中图仪器纳米级表面形貌台阶仪单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。纳米级表面形貌台阶仪主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。产......
