jeol sem
SEM高温疲劳试验机是带扫描电子显微镜的疲劳试验机。用于在疲劳试验过程中动态时实观测样品表面的微观破坏。可进行拉-拉、拉-压、三点弯曲疲劳试验及800℃以下的高温试验。 特 点：· 电子显微镜SEM与试验机采用一体化结构，具有高防振效果。· 可以在利用SEM观察的同时，进行裂纹扩展观察试验。· 可以在常温～800℃温度范围内，重复向样品......
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式，并可灵活配置，多种配件选项能够满足各种需求。学术和工业研究实验室需要利用现代化SEM从最广泛的样品中获得大量数据，并获得出色的图像质量。同时，由于多数实验室均为多人操作或管理设备，SEM要......
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
TKD样品座是专为超薄样品设计，易于固定且符合光学原理。置于SEM中，即可使用AZtec EBSD系统轻松方便的实现高分辨的EBSD分析。专为TKD分析的样品座，TKD即透射菊池花样演示分析（Transmission Kikuchi Diffraction）技术，是最新用于检测仅十几纳米尺度的EBSD分析方法，空间分辨率比传统技术提高一个数量级。该......
点击查看下载（原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本相关资料，进一步了解产品。 观测敏感的生物样本时，过高的成像电压带来的电子束会损伤样本，从而无法在细胞研究中观测关键细节。Verios XHR 扫描电子显微镜 (SEM) 最低可在 1kV 的电子束电压下工作，因而能最大限度减少样本干扰，同时又不会削弱分辨率和对比度。生物研究人员现在可以处......
点击查看下载JIB-4700F日本电子 双束加工观察系统 观察和分析磁性样品相关资料，进一步了解产品。 JEOL热场发射扫描电镜的无漏磁物镜设计，使得观察和分析磁性样品变得非常容易，即使是磁性粉末或者磁性极强的样品也没有问题。 JIB-4700F 双束加工观察系统随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、元素分析和晶体分......
点击查看下载Aquilos 2 Cryo-FIBFIB-SEM赛默飞 样本相关资料，进一步了解产品。 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。核心优势:为使用 Autoloa......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......
点击查看下载Verios XHR SEM透射电镜赛默飞 样本相关资料，进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会......