afm电镜
技术参数： 1. 光源 A. IK3501R-G, 325nm HeCd 激光器 - 输出功率 : 50mW 风冷, TEM00 B. QUV266-50, 266nm 半导体激光器 - zei大平均输出功率 : 50mW - 脉冲频率 : 1-100KHz(内置可调) 0-200KHz(外部可调)......
技术参数： 技术参数 1. Humidity control From 0 to 99% 湿度控制： 0 to 99% 2. Data length 16 bits, all channels 传输数据长度： 16位，所有通道 3. Image pixel ......
扫描电镜专用原位AFM探测系统 AFSEM™ —使AFM和SEM合二为一奥地利GETec公司发布的AFSEM是一款紧凑型，适用于真空环境的AFM产品，能够轻松地结合两种强大的分析技术—AFM和SEM为一体，扩展SEM样品成像和分析能力。AFSEM技术与SEM技术的结合，使得人们对微观和纳米新探索新发现成为可能。SEM结合AFM解决方案：* 扫描电子......
AFM-拉曼系统(Raman-AFM System) 技术参数： 1. 光源 A. IK3501R-G, 325nm HeCd 激光器 - 输出功率 : 50mW 风冷, TEM00 B. QUV266-50, 266nm 半导体激光器 - zei大平均输出功率 : 50mW - 脉冲频率 : 1-100K......
技术特点： AFM探针和激光光斑完美的同步协调。AFM探针可在纳米级的精度上定位于激光光斑中，在激光扫描和样品扫描的6个轴中，全部采用全量程闭环控制系统。 高数值孔径的光学物镜和SPM系统紧密的集成在一起，让系统的光学稳定性达到前所未有的高度—为长程和微弱的信号而设计。 反射模式的激光光路可用于激光共聚焦成像。......
雷尼绍 AFM-拉曼系统(Raman-AFM System) 灵活方便配置偏光光路技术特点： AFM探针和激光光斑完美的同步协调。AFM探针可在纳米级的精度上定位于激光光斑中，在激光扫描和样品扫描的6个轴中，全部采用全量程闭环控制系统。 高数值孔径的光学物镜和SPM系统紧密的集成在一起，让系统的光学稳定性达到前所未有的高度&mda......
点击查看下载EM TRIM2 抛光机德国 修块机 EM TRIM2 Leica UM EM 综合产品目录2020版相关资料，进一步了解产品。 为透射电镜/扫描电镜/生命科学/工业材料样品提高样品制备全套解决方案.徕卡纳米技术部提供：超薄切片，组织处理，高压冷冻，镀膜，临界点干燥，机械研磨抛光，离子束研磨，冷冻断裂/复型及真空环境传输等各类技术手段，适用于T......
点击查看下载德国 修块机 EM TRIM2EM TRIM2 抛光机 样本相关资料，进一步了解产品。 为透射电镜/扫描电镜/生命科学/工业材料样品提高样品制备全套解决方案.徕卡纳米技术部提供：超薄切片，组织处理，高压冷冻，镀膜，临界点干燥，机械研磨抛光，离子束研磨，冷冻断裂/复型及真空环境传输等各类技术手段，适用于TEM/SEM/FIB/LM/AFM样品制备。......
点击查看下载抛光机EM TRIM2 德国 修块机 EM TRIM2 应用于细胞生物学相关资料，进一步了解产品。 为透射电镜/扫描电镜/生命科学/工业材料样品提高样品制备全套解决方案.徕卡纳米技术部提供：超薄切片，组织处理，高压冷冻，镀膜，临界点干燥，机械研磨抛光，离子束研磨，冷冻断裂/复型及真空环境传输等各类技术手段，适用于TEM/SEM/FIB/LM/AF......
全新发布的 AFM-in-Phenom XL 结合了扫描电子显微镜 (SEM) 和原子力显微镜 (AFM) 的优势，实现了在同一系统中对样品进行多模态（SEM 及 AFM 形貌、元素、机械、电学、磁学）关联分析。 · 设备扫描范围（开环）：100μm×100μm×20μm· 设备扫描范围（闭环）：80μm×80μm×16μm· 分辨率：0.2nm×......