afm 光热
仪器简介： 热释电探测器—常温型红外探测器，波长范围：0.5-22um 技术参数： 技术指标 型号/参数 DPe22 光敏面尺寸(mm) 0.5×2 窗口材料 ZnSe（标配） 波长范围(nm) 0.5-22 ......
技术参数： 1. 光源 A. IK3501R-G, 325nm HeCd 激光器 - 输出功率 : 50mW 风冷, TEM00 B. QUV266-50, 266nm 半导体激光器 - zei大平均输出功率 : 50mW - 脉冲频率 : 1-100KHz(内置可调) 0-200KHz(外部可调)......
技术参数： 技术参数 1. Humidity control From 0 to 99% 湿度控制： 0 to 99% 2. Data length 16 bits, all channels 传输数据长度： 16位，所有通道 3. Image pixel ......
用途：热反射方法基于超高速激光闪射系统，可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数、热导率、吸热系数和界面热阻。此系统可测量厚度低至10nm的薄膜。同时，系统提供不同的测量模式，以适应于不同的基片情况（透明/不透明）。性能：-由于激光闪射时间仅为纳秒（ns）量级，甚至可达到皮秒（ps）量级，此系统可测量厚度低至10nm的薄膜。-系统提供不同......
雷尼绍 AFM-拉曼系统(Raman-AFM System) 技术参数： 1. 光源 A. IK3501R-G, 325nm HeCd 激光器 - 输出功率 : 50mW 风冷, TEM00 B. QUV266-50, 266nm 半导体激光器 - zei大平均输出功率 : 50mW - 脉冲频率 : 1-......
AFM-拉曼系统(Raman-AFM System) 技术参数： 1. 光源 A. IK3501R-G, 325nm HeCd 激光器 - 输出功率 : 50mW 风冷, TEM00 B. QUV266-50, 266nm 半导体激光器 - zei大平均输出功率 : 50mW - 脉冲频率 : 1-100K......
雷尼绍 AFM-拉曼系统(Raman-AFM System) 全量程闭环控制系统技术参数： 1. 光源 A. IK3501R-G, 325nm HeCd 激光器 - 输出功率 : 50mW 风冷, TEM00 B. QUV266-50, 266nm 半导体激光器 - zei大平均输出功率 : 50mW - ......
技术特点： AFM探针和激光光斑完美的同步协调。AFM探针可在纳米级的精度上定位于激光光斑中，在激光扫描和样品扫描的6个轴中，全部采用全量程闭环控制系统。 高数值孔径的光学物镜和SPM系统紧密的集成在一起，让系统的光学稳定性达到前所未有的高度—为长程和微弱的信号而设计。 反射模式的激光光路可用于激光共聚焦成像。......
雷尼绍 AFM-拉曼系统(Raman-AFM System) 灵活方便配置偏光光路技术特点： AFM探针和激光光斑完美的同步协调。AFM探针可在纳米级的精度上定位于激光光斑中，在激光扫描和样品扫描的6个轴中，全部采用全量程闭环控制系统。 高数值孔径的光学物镜和SPM系统紧密的集成在一起，让系统的光学稳定性达到前所未有的高度&mda......
光热测量系统（光学弱吸收测量系统） 光热测量系统的主要用途是对不同光学元件（如镀膜、基底、晶体、界面等）的吸收特性进行表征。该装置采用泵浦-探测方式，基于热透镜效应，吸收测试在“泵浦”激光的波长下进行。为提高灵敏度，泵浦光经斩波调制，以实现对被测样品的周期性加热。探测光束感知被吸收的泵浦光所引起的加热效应......