能谱仪 探测器
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme可用于测定Power Semiconductors，适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于纳米材料行业领域。 失效分析 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，可提供远远超越传统微米和纳米分析的解......
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Minerals and Metals的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的Minerals and Metals项目。 工艺矿物学与化学分析 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，可提供远远超越传统微米和纳米分......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Metals的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的Metals 3D Printing项目。 Additive Layer Manufacturing (ALM) is a continuously evolving method of manu......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme适用于Nano Material项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Nano Material等样品。可应用于高分子材料行业领域。 纳米材料生长和表征 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。......
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Metals alloys and ceramics的检测。可以用在高分子材料行业领域中的Metals alloys and ceramics项目。 材料成分和结构 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，可提供远远超......
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme可用于测定Metals alloys and ceramics，适用于Metals alloys and ceramics项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于地矿/有色金属行业领域。 材料成分和结构 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme可以用在高分子材料行业领域，用来检测Construction Materials，可完成Construction Materials项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 机械及电学性能 SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的......
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme适用于Rapid Characterisation项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Metals等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 The groundbreaking Symmetry CMOS-based EBSD detector, together with the ......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme适用于形貌观察分析项目，参考多项行业标准Combined WD/ED Solutions for high spatial resolution microanalysis。可以检测材料等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 Introduction SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extr......
点击查看下载能谱探测器Ultim Extreme牛津仪器 EXTREME 能谱探测器相关资料，进一步了解产品。 牛津仪器 EXTREME 能谱探测器 应用手册 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款无窗能谱，晶体面......