jeol 电子显微镜 中标
JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品，在兼顾高分辨高稳定性的同时，zei求分析效率的zei大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计，除了让人耳目一新外，还对设置环境更具抗干扰能力。 主要技术指标： 1. 点分辨率：0.21nm； 2. 晶格分......
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，zei高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。产品特点：实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JE......
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号，既节省了时......
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，zei高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。产品特点：实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JE......
产品特点：实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器，zei高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的63pm采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证......
产品特点：STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的63pm采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达63pm（300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时）。ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器 ※选配件ETA校正器（Expanding trajectory aberration correcto......
产品特点：强大的冷场发射电子枪HyperCF300标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。两种物镜极靴为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜极靴。丰富的选购件能安装超大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。大范围的加速电压设置标配300kV和80kV下的......
产品规格：分辨率300 kV，80 kV物镜种类※1UHR极靴HR极靴STEM分辨率（300kV） 使用STEM校正器0.063nm0.082nmTEM分辨率（300 kV）线分辨率0.05nm线分辨率0.06nm使用TEM校正器非线性信息分辨极限0.06nm非线性信息分辨极限0.08nm线性信息分辨极限0.09nm线性信息分辨极限0.12nmJEM-ARM......
JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代产品，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。产品特点• FHP2 新型物镜极靴保证超高空间分辨率观察的同时，优化FHP物镜极靴的形状以满足大尺寸双SDDs（158mm2）的需求，x射线有效检测效率提高了两倍以上，实现亚埃级分辨率的EDS元素......
InTouchScope™ 热场发射扫描电子显微镜 JSM-IT710HR 发布—一款好用的扫描电镜—日本电子株式会社(代表取締役社長兼COO 大井泉)宣布：高通量新型扫描电子显微镜JSM-IT700HR于2020年8月3日开始全球销售。【开发背景】扫描电子显微镜广泛应用于纳米技术、金属、半导体、陶瓷、医学和生物学等领域，从基础研究到工厂的品质管理等用途也在......