eds eds 俄歇电子能谱
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme适用于Pollutant Particles项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Pollutant Particles等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 监测和过程控制 SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化......
牛津仪器X射线能谱仪EDSAzteclive参考多项行业标准Oxford Instruments。完成 Li-Ion battery的检测。可以用在生物质材料行业领域中的Identifying contaminants in Li-Ion battery production using AZtecFeature项目。 Lithium Ion batteri......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme适用于Power Semiconductors项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品。可应用于纳米材料行业领域。 半导体制造解决方案 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，可提供远远超越传统......
X射线能谱仪EDS能谱实时元素成像系统Azteclive 适用于EBSD and EDS Characterisation of high entropy alloys
参考成交价格： 暂无
型号：Azteclive
牛津仪器X射线能谱仪EDSAzteclive可用于测定Metals，适用于EBSD and EDS Characterisation of high entropy alloys项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于地矿/有色金属行业领域。 A high entropy alloy, Al8Co17Cr17Cu8Fe17Ni......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme用于测定Power Semiconductors，符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 失效分析 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extre......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme用于测定Power Semiconductors，符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 失效分析 SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化设计相结合，灵敏度比传统大面积SDD高15倍......
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme可用于测定Metals alloys and ceramics，适用于Metals alloys and ceramics项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于地矿/有色金属行业领域。 材料成分和结构 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，......
牛津仪器X射线能谱仪EDSAzteclive参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Pollutant Particles的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的Pollutant Particles项目。 监测和过程控制 AZtecLive是一种变革性的EDS分析方法，可以改变用户在SEM中进行样品筛选的方式。它将实时电子图像与实时X射线......
牛津仪器能谱实时元素成像系统Azteclive用于测定Power Semiconductors，符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 半导体制造解决方案 附录视频中以Ti6Al4V钛合金细粉末为例做了展示。Ti6Al4V是一种轻合金，具有优异的力学性能、耐腐蚀性和良好的生物相容性。它是许多高性能......
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