微量 微区 分析
XGT-7200V X射线分析显微镜能散型XRFHORIBA 微区XRF分析宝石夹杂物
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堀场HORIBA X荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪）
型号：XGT-7200V X射线分析显微镜
堀场HORIBAHORIBA XGT-7200V X射线分析显微镜可用于测定宝石夹杂物，适用于元素组成项目。并且参考多项行业标准0。可应用于地矿/有色金属行业领域。 产品特点SDD 检测器，无需液氮双真空设计，可测量含水生物样品同时采集X 射线荧光图像和透射图像高光谱扫描，单点/ 多点自动，智能面分析测量尺寸从10μm2（zei高的空间分辨率）至10cm2......
产品特点：JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统，通过与SEM的马达驱动样品台联动使用，可以进行大范围的观察和分析。EDS通过检测被电子束激发出的样品的特征X射线，确定样品含有的元素及成分比，可以进行微区的点分析、线分析及面分析。JSM-6510/LA, JSM-66......
产品简介传统光纤探头在进行样品透射或反射率测量时，受限于其光斑尺寸，最小采样直径通常仅可达 1–2 mm。这一限制不仅降低了空间光谱分辨率，也限制了对微小样品区域的有效分析。为满足微尺度下材料光学特性研究的需求，如海光电推出了微区透反射光谱测量系统，将光谱分析技术与显微光学系统深度融合，实现微米级区域的光谱信息采集。该系统采用光纤共焦照明结构，与传统科勒照明......
产品概述低温/磁场兼容的微区光谱测试系统我们的核心研发成员具有十余年的低温，强磁场，光谱，自动化控制与采集系统开发经验。我们将于2024年推出磁场下的微区光学测试解决方案。它支持最高达12 T磁场，低至2.8 K环境下的微区光学测试。包括荧光，荧光寿命，反射光谱，拉曼光谱，偏振分辨二次谐波，光电流，磁光克尔与反射磁圆二色。主要应用于磁性二维材料或磁性薄膜材料......