jem-2100f场发射高分辨透射电镜
JSM-IT800 热场发射扫描电子显微镜JSM-IT800具备高分辨观察和高速元素面分析，能够满足客户的各种需求。该装置配备浸没式肖特基场发射电子枪、新一代电子光学控制系统Neo Engine、一体化EDS、易用的操作导航SEM Center、及可置换的物镜模块。特性JSM-IT800 整合了我们用于从高分辨率成像到快速元素分析的“浸没式肖特基 Plus ......
具备优异性能的SEM，适用于纳米及亚纳米级别的空间分辨率应用 纳秒级的T1闪烁体探测器，获取卓越的背散射电子衬度图像 大工作距离（10mm)下具备出色的空间分辨率Apreo 2 SEM场发射扫描电镜一款具备优异性能的多功能型成像及分析的扫描电镜材料表征先进的材料表征实验室需要使用最新技术，且将分析仪器（包括 SEM扫描电镜）的性......
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖。JEM-2200FS采用欧米伽能量过滤器，让透过电子穿过欧米伽形状的电磁透镜系统，具有不同电子的能量将被展开，我们可以选择零损失电子成像，还可以专门突出某种原子成像，非常方便......
TESCAN MAGNA 新一代超高分辨场发射扫描电镜 TESCAN MAGNA 是一款功能极其强大的分析仪器，适用于纳米材料的形貌表征以及微观分析。TESCAN MAGNA 配置 Triglav™ 型 SEM 镜筒，具有超高的分辨率，在低电压下尤为明显；镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力，可以获得更好的图像衬度和表......
FESEM的工作原理是利用电子场致发射现象，即在极强的电场作用下，金属表面会发射出电子。FESEM中的电子枪是由钨丝制成的钨丝的直径只有几微米，可以发射出极细的电子束。电子束经过聚焦透镜的聚焦作用，形成极小的电子束斑点，然后通过扫描线圈进行扫描，扫描电子束在样品表面形成的图像被探测器捕捉并转换成电信号，最终形成图像。TESCAN MAGNA 新一代......
产品规格物镜种类*1极高分辨率（UHR）型高分辨率（HR）型样品高倾斜（HT）型样品冷却（CR）型高衬度（HC）型分辨率 点分辨率晶格分辨率0.19 nm0.1 nm0.23 nm0.1 nm0.25 nm0.1 nm0.27 nm0.14 nm0.31 nm0.14 nm能量分辨率0.8 eV（零损失 FWHM）加速电压160 kV，200 kV*2电子枪......
产品特点：JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。STEM-HAADF像的保证分辨率（78pm*1 ）为世界之领先性能标配照明系统球差校正器，且zei大限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性，实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 （78pm*1、......
赛默飞200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM 高质量、高分辨率的 (S)TEM 成像和灵活的 EDS 可使用高分辨率、高亮度（冷）场发射枪 可提供双 EDS，以获得较高的分析通量Talos F200i TEM用于高通量、高分辨率化学表征和动态观察的 TEM 和 STEM 分析。Talos F200i 透射电子显......
扫描电子显微镜Verios 5 XHR SEM超高分辨扫描电镜利用亚纳米分辨率和高材料对比度进行纳米材料表征和分析。联系我们主要特点性能数据相关资源应用技术技术文件联系我们Verios 5 XHR SEM扫描电镜Verios 5 XHR SEM扫描电镜采用出色的材料对比度在全 1 keV-30 keV 能量范围内提供亚纳米级分辨率。前所未有的自动化......
赛默飞200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM 高质量、高分辨率的 (S)TEM 成像和灵活的 EDS 可使用高分辨率、高亮度（冷）场发射枪 可提供双 EDS，以获得较高的分析通量Talos F200i TEM用于高通量、高分辨率化学表征和动态观察的 TEM 和 STEM 分析。Talos F200i 透射电子显......