超快光谱探测
仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 新一代荧光寿命测试系统-DeltaPro，其独一无二的高性能以及简单实用的特点，对TCSPC系统有了新的定义。HORIBA科学仪器部从上世......
HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）作为荧光光谱仪的全球领导者，可以提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种耦联技术的解决方案。HORIBA Scientific从上世纪70年代开始一直专注于TCSPC系统的开发，并始终保持着荧光系统设计和生产领域的世界领导地位。基于四十年的寿命系统研发和生产经验，新一代荧光寿命测试系统DeltaF......
结合先进的超高时间分辨TCSPC电子系统（<400fs/pt），并配合多种即插即用的高频脉冲光源和高度集成化的检测技术，整机配置灵活，满足<5ps短寿命测试要求，成为科研深入应用开发的高效利器。产品特点超短寿命测试：<5ps（配合飞秒激光器和MCP检测器）磷光分辨率：<42ns综合分析软件，5指数寿命拟合高稳定性设计，使用维护简单高度......
系统主要功能指标：宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm; 高系统时间分辨率： <=5ps 寿命衰减测量时间范围：<=50ps—100us 高系统光谱分辨率： <0.1nm 宽单次成谱范围： >=200nm 静态（稳态）光谱采集， 瞬态时......
系统主要功能指标：宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm;高系统时间分辨率： <=5ps寿命衰减测量时间范围：<=50ps—100us 高系统光谱分辨率： <0.1nm宽单次成谱范围： >=200nm静态（稳态）光谱采集，瞬态时间分辨光谱图像及荧光寿命曲线系统集成......
卓立汉光超快时间分辨光谱测试系统 应用于超快化学发光领域系统主要功能指标：宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm;高系统时间分辨率： <=5ps寿命衰减测量时间范围：<=50ps—100us 高系统光谱分辨率： <0.1nm宽单次成谱范围： >=200nm静态（稳......
卓立汉光超快时间分辨光谱测试系统 应用于超快放电过程领域系统主要功能指标：宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm;高系统时间分辨率： <=5ps寿命衰减测量时间范围：<=50ps—100us 高系统光谱分辨率： <0.1nm宽单次成谱范围： >=200nm静态（稳......
卓立汉光超快时间分辨光谱测试系统 应用于超快物理发光领域系统主要功能指标：宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm;高系统时间分辨率： <=5ps寿命衰减测量时间范围：<=50ps—100us 高系统光谱分辨率： <0.1nm宽单次成谱范围： >=200nm静态（稳......
超快光谱超快光谱探测技术被认为是自量子力学诞生以来，能够在相应非常短的时间尺度内探索微观量子性质的最有利工具之一，在研究超导材料的机理、非平衡物理及新奇量子态的诱导、量子态的外场调控等方面同样具有重要作用。很多新材料的研发需要借助超快光谱探测技术手段进行，如半导体磁性材料、超导体、绝缘体、复杂材料、太阳能电池等。在生物科学领域，NA、RNA等生物大分子在光激......