颗粒杂质扫描分析系统
粒子计数和图像测量可以用一台仪器来实现iSpect DIA-10提供了先进的粒子分析技术，将单个粒子的图像信息添加到精确的粒子计数中。采用宽聚焦区域的远心镜头与微流池技术相结合，可聚焦整个流路，大幅度减小了颗粒漏检，实现了精确的颗粒计数和可靠的颗粒检测。 可有效分......
高纯气体是化工、医疗和食品等行业所需使用的气体。准确细致的控制型气相色谱仪能够对高纯气体中的微量杂质定性和定量分析。若工厂的气源由多重管路组成，可使用 SLS-2020 取样管路选择器自动切换进样管线，只需一台气相色谱仪，便可对所有样品进行分析。分析示例：氦气（He）中的杂质采用单一分析法测定 He 中的杂质。该例子采用 PDHID（脉冲放电氦离子化检测器）......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature可以用在纳米材料行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 失效分析 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使用更方便的颗粒物......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature用于测定Polymer Materials，符合行业标准Oxford Instruments。适用Polymer Materials项目。 聚合物添加剂分析 同一台SEMzei多可以同时配备4台能谱仪，即使对起伏样品或激发产额极低的样品也可以轻松检测64位系统，实现真正的多任务同时工作可以分析一个样品中超过200,00......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature适用于Characterisation项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Polymers等样品。可应用于高分子材料行业领域。 SEM-EDS is the go-to method for the characterisation of many material......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Polymers的检测。可以用在高分子材料行业领域中的Characterisation项目。 SEM-EDS is the go-to method for the characterisation of many materials an......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature可用于测定Pollutant Particles，适用于Pollutant Particles项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于电子/半导体行业领域。 监测和过程控制 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Polymer Materials的检测。可以用在纳米材料行业领域中的Polymer Materials项目。 层状聚合物结构的成像与失效分析 同一台SEMzei多可以同时配备4台能谱仪，即使对起伏样品或激发产额极低的样品也可以轻松检测64......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Minerals and Metals的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的Minerals and Metals项目。 工艺矿物学与化学分析 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使用更......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature用于测定Semiconductor Devices，符合行业标准Oxford Instruments。适用Semiconductor Devices项目。 Before volume production of semiconductor devices, it is crucial that the processe......