离子减薄仪
仪器简介： 一、1050型离子减薄仪性能概述 For many of today’s advanced materials, analysis by transmission electron microscopy (TEM) is the best ......
性能特点1、监视系统采用聚光光源2、减薄过程无离子束遮挡。3、观察系统设计有了防污染系统4、结构紧凑，体积小，有防误操作系统5、可获得十分清洁的样品，使得从样品中提取的信息更为真实可靠。6、适用性广泛，可制备金属、非金属、陶瓷、矿物、半导体、骨骼、牙齿等几乎所有固体材料产品编号ZB-YQ69产品名称离子减薄仪离子束加速电压0-10KV 连续可调最大......
Gentle Mill 离子减薄仪/离子精修仪--用于制备高质量 TEM/FIB 样品Technoorg Gentle Mill 离子精修仪产品专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计。 Gentle Mill 型号非常适合要求样品无加工痕迹、表面几乎没有任何损坏的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。 同时，Gentle Mi......
SuperViewW0.1nm白光干涉仪测量晶圆减薄表面分辨率0.1μm，重复性0.1%，应用领域广泛，操作简便，可自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。广泛应用于如纳米材料、航空航天、半导体等各类精密工件表面质量高要求的领域中，可以说只有3d非接触式光学轮廓仪才能达到微型范围内重点部位的纳米级粗糙度、轮廓等参数的测量要求。从半导体晶......
迈科英诺型号UFM-2000精密离子减薄仪采用电磁及永磁体结合双聚焦离子枪设计，高电压离子束散开获得更大薄区，低电压汇聚提高精修效率。精密离⼦减薄仪精密离子减薄仪利用聚焦氩离子束 对样品上下表面同时进行轰击，利用动量交换方式实现对样品进行精细减薄，获得满足电子束穿透厚度的薄区供透射电镜观察。迈科英诺型号UFM-2000精密离子减薄仪采用电磁及永磁体结合双聚焦......
迈科英诺 UFM-2000 精密离子减薄仪独特聚焦离子束永磁体聚焦结合电磁聚焦，离子枪无耗材；束斑调节功能通过调节束斑尺寸可满足大薄区制样及快速精修；定点减薄配备X/Y方向定点减薄夹具，千分尺精确控制。迈科英诺型号UFM-2000精密离子减薄仪采用电磁及永磁体结合双聚焦离子枪设计，高电压离子束散开获得更大薄区，低电压汇聚提高精修效率。精密离⼦减薄仪精密离子减......
迈科英诺 UFM-2000 精密离子减薄仪 10英寸全触屏精密离⼦减薄仪精密离子减薄仪利用聚焦氩离子束 对样品上下表面同时进行轰击，利用动量交换方式实现对样品进行精细减薄，获得满足电子束穿透厚度的薄区供透射电镜观察。迈科英诺型号UFM-2000精密离子减薄仪采用电磁及永磁体结合双聚焦离子枪设计，高电压离子束散开获得更大薄区，低电压汇聚提高精修效率。可选配液氮......