理学ZSX Primus III+
ZSX Primus III+波长色散型X射线荧光光谱仪X射线管位于分析样品上方，减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险，并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂，使样品制备更快捷简便。可在慢速和快速直接切换抽真空和卸真空速率，使粉末和金属样品的样品处理量满足使用要求。特点：实现粉末、固体样品不同元素不同含量的高精度分析高精度定位样品台满足合金分析高精度要求特殊......
软磁材料即具有低矫顽力和高磁导率的磁性材料。软磁材料易于磁化，也易于退磁，广泛用于电工设备和电子设备中。其发展促进了我国移动通讯、光伏新能源、新能源汽车及其充电设施、云计算、大数据、人工智能等新兴产业的发展，也使家用电器、电脑及其外设、节能照明、电磁兼容、工业自动化等传统产业长久不衰。高纯氧化铁是生产软磁材料的主要原料，氧化铁中主成分和杂质元素的含量直接影响......
X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。Rigaku ZSX Primus III +以很少的标准在各种样品类型中快速定量测定从氧气（O）到铀（U）的主要和次要原子元素。高于光学元件的管道，可靠性更高ZSX Primus III +具有......
Rigaku ZSX Primus III +以很少的标准在各种样品类型中快速定量测定从氧气（O）到铀（U）的主要和次要原子元素。高于光学元件的管道，可靠性更高ZSX Primus III +具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护，再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间。高精度样品定位样品的高精度定位确......
在钛酸钡生产过程中，非常重要指标：钡钛摩尔比，简称钡钛比。钡钛比直接影响钛酸钡的四方度，进而影响钛酸钡的介电常数和绝缘电阻。对于高质量的钛酸钡粉体，钡钛比的控制精度要求较高，一般控制精度要求小于0.001。通常是用化学滴定法检测出BaTiO3中BaO和TiO2的含量，就可计算Ba/Ti的摩尔比。但化学滴定法的精确程度只有0.002左右，且操作人员和环境对误差......
分析范围： Be - U较小的占地面积微区分析下照设计30 μm超薄窗Mapping: 元素分布He 密封:样品室一直在真空环境中ZSX PrimusRigaku ZSX Primus以各种各样的样品 - 以最低标准提供从铍（Be）到铀（U）的主要和次要原子元素的快速定量测定。功能强大，灵活可靠的元素分析作为Rigaku ZSX系列的最新仪器，ZSX Pri......
仪器简介： ZSX Primus Ⅳ是理学公司全新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高。超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析。48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景。双真空,双泵设计,节省抽真空时间。防粉尘附件,可......
卓越的轻元素XRF表现与倒置光学为可靠性的优越ZSX Primus IV具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护，再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间。ZSX Primus IV WDXRF光谱仪具有卓越的性能和分析最复杂样品的灵活性，采用30微米的管子，这是业界最薄的终端窗口管，可提供出色的轻元素（低......
理学(Rigaku)公司创建于1950年，是世界上研制和生产X射线科学分析仪器的开拓者之一，其产品涉及粉末衍射、单晶衍射、应力分析、结构解析、半导体缺陷、电池分析、X射线全反射、单道/多道WDXRF、EDXRF、3D全偏振单色EDXRF以及多种在线XRF分析仪，是世界上最大的、门类最齐全的专业X射线分析仪器生产厂。分析范围： Be - U较小的占地面积微区分......
ZSX Primus/ZSX Primus IVi采用下照射方式，通过搭载无盖样品盒机构最多可装填104个样品，从而进行多个样品的连续测量。可在观察样品图像的同时进行分析位置的指定和Mapping测量。软件操作简便，即使是操作新手也可进行高水平的分析。 分析范围： Be - U较小的占地面积微区分析下照设计30 μm超薄窗Mapping: 元素分布He 密封......