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理学 ZSX Primus III+ 扫描型X射线荧光光谱仪

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参考报价: 面议 型号: ZSX Primus III+
品牌: 理学 产地: 日本
关注度: 1658 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
仪器类型扫描型
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。


Rigaku ZSX Primus III +以很少的标准在各种样品类型中快速定量测定从氧气(O)到铀(U)的主要和次要原子元素。
高于光学元件的管道,可靠性更高

ZSX Primus III +具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护,再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间。

高精度样品定位

样品的高精度定位确保样品表面与X射线管之间的距离保持恒定。这对于要求高精度的应用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用独特的光学配置进行高精度分析,旨在限度地减少样品中非平坦表面引起的误差,如熔融珠和压制颗粒

使用EZ-scan软件的SQX基本参数

EZ扫描允许用户在未事先设置的情况下分析未知样品。节省时间功能只需点击几下鼠标并输入样品名称。结合SQX基本参数软件,它可以提供最准确,最快速的XRF结果。SQX能够自动校正所有的矩阵效应,包括线重叠。SQX还可以校正光电子(光和超轻元素),不同气氛,杂质和不同样品尺寸的二次激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序可以提高准确度。

特征

  • 元素从O到U的分析

  • 管道上方的光学器件使污染问题最小化

  • 占地面积小,使用的实验室空间有限

  • 高精度样品定位

  • 特殊光学元件可减少曲面样品表面造成的误差

  • 统计过程控制软件工具(SPC)

  • 吞吐量可以优化疏散和真空泄漏率


理学 ZSX Primus III+ 扫描型X射线荧光光谱仪信息由理学中国为您提供,如您想了解更多关于理学 ZSX Primus III+ 扫描型X射线荧光光谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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