激光共聚焦显微镜 SMD
[ 产品详情 ] 蔡司激光共聚焦显微镜LSM 900 ，用于材料的三维微观结构和表面形貌的表征，具备光学显微镜的常规观察模式的同时也能够对样品进行三维表面形貌表征，同时也能够与扫描电镜进行关联显微分析，实现样品的多尺度和多维度表征。是实验室和检测平台用于表面形貌分析的理想的综合型解决方案。 [ 产品特点 ]ü 横向分辨率为12......
高分辨率，精确成像凭借对各种类型样品进行精确3D测量的能力，系统可提供用于质量保证和工艺控制的可靠数据。 卓越的横向分辨率 405纳米紫色激光和专用高数值孔径物镜可以捕捉到传统光学显微镜、白光干涉仪或红色激光显微镜难以发现的精细纹理和缺陷。红光型（658纳米：0.26微米空间)微米紫光型（405纳米：0.12线和空间)一致的测量值 LEXT专用物......
数显厚度检测仪有两种类型，分别是小表示为0.01mm和0.001mm，这款是0.001mm的表示量。可用于连接自由选择数字小型印刷机SD-763，能够输出测量数据并判断是否合格，还可以进行统计计算处理。特点：标准型伸入深度30mm，小表示量为0.01mm，测量范围为12mm，测定子形状为球状，铁砧为平面，产品规格如下：型号 小表示量(mm) 测量范围......
得乐数显厚度计SMD-540S采用指示器的演算处理机来判定是否合格，可以忽略预先测量实用性的低价格型。不能降低测定力。对于低测定力，应选择符合标准型。伸入深度为30mm的普遍型*小表示量0.01mm，测量范围12mm，测定子为∮10平，铁砧为陶制器。产品规格：型号*小表示量(mm)测量范围(mm)指示误差(um)平行度(um)测定力(N)测定子形状(mm)铁......
得乐数显厚度计SMD-540S采用指示器的演算处理机来判定是否合格，可以忽略低价格型的预先测量实用性。不能降低测定力。对于低测定力，请选择符合您标准的型号。伸入深度为30mm的普遍型，小表示量为0.01mm，测量范围为12mm，测定子形状为平，铁砧为陶制器。产品规格如下：型号 小表示量(mm) 测量范围(mm) 指示误差(u......
1. 数显厚度计有两种类型，小表示为0.01mm和0.001mm。 2. 对于连接自由选择数字小型印刷机SD-763，能够测量数据的输出和判定是否合格，也能够统计演算处理。 3. 能够改变一台测定力。 特点：伸入深度30mm的标准型，小表示量0.01mm测量范围12mm测定子、铁砧=陶制器。 产品规格：型号，小表示量(mm)，测量范围(mm)，指示误差(um......
得乐数显厚度计SMD-540S是根据指示器的处理机来确定是否合格的，可以忽略预先测量的低价型号。不能牺牲测定力。对于低测定力，请选择符合您标准的型号。伸入深度为30mm的普遍型号，小表示量为0.01mm，测量范围为12mm，测定子为铁砧为陶制器。产品规格：型号 小表示量(mm) 测量范围(mm) 指示误差(um) 平行度(um) 测定力(N) 测定子形状(m......
得乐数显厚度计SMD-540S是通过指示器的处理计算来判断是否合格的，可以忽略先前的实用性低价格型预先测量。不能降低测定力。对于低测定力，请选择符合您标准型的。伸入深度为30mm的普遍型，小表示量0.01mm，测量范围12mm，测定子形状为球状，铁砧为平坦，产品规格如下：型号：SMD-540S小表示量(mm)：0.01测量范围(mm)：12指示误差(um)：......
VT6000材料激光共聚焦显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，从而进行分析。可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反......