2020年02月14日,日本电子(JEOL Ltd.)总裁兼首席运营官Izumi Oi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2(GRAND ARM™2)。■ 主要特点1 超高空间分辨率与能谱分析的组合优化。新开发的FHP2物镜极靴的特点如下:1)提高了能谱分析效率到两倍以上。2)低光学系数,低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨......
为了响应近来已成为主流的远程操作的需求,NEOARM的电镜室和操作室实行了分离式,主机使用了JEOL的新概念颜色—纯白色和JEOL银色,设计精炼时尚。主要特点: ◇ 球差校正器ASCOR(Advanced STEM Corrector)“NEOARM”配备的新型球差校正器ASCOR能够校正高阶像差(即6重像散,目前阻碍透射电镜分辨率进一步......
■ 主要特点1 超高空间分辨率与能谱分析的组合优化。新开发的FHP2物镜极靴的特点如下:1)提高了能谱分析效率到两倍以上。2)低光学系数,低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨率和高灵敏度X射线分析能够在一定范围的加速电压下执行。(保证的STEM分辨率:300kV时53pm,80kV时96pm)**在配置STEM扩展轨迹像差(ETA)校正器时2 用......
透射电子显微镜除了延续了日立公司配备的球面像差校正器的功能、自动校正功能,像差校正后的SEM图像和对称Dual SDD技术等特点。还融汇了透射电子显微镜HF系列中所积累的技术。200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。对于包括科研用户在内的广泛用户,......