三维荧光成像系统
EVOS FL细胞荧光成像系统高品质荧光显微成像，专利光路，无需暗室EVOS FL细胞荧光成像系统提供高质量图像，适用于各种应用领域，如多通道荧光成像、蛋白分析、病理研究、原位成像等。无目镜一体设计，操作简便。EVOS FL成像系统具有极大的灵活性可满足绝大多数成像研究者的应用需求。产品特点：多通道荧光和明场图像采集高品质细胞成像无目镜一体设计，无需暗室可配......
HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。在细胞科学、生物物理和材料科学领域，重要变化经常会发生在时间和空间的微小尺度里。时间分辨荧光显微镜是研究细胞结构和纳米材料领域中动态事件的终极工具。与传统的荧光强度成像（由荧光显微镜获得）不同，荧光寿命是......
荧光显微镜系统为高级的成像和分析 LAS X Widefield Systems徕卡AF6000是一个综合应用系统解决方案 给在荧光显微镜 和 图像分析中应用 包括延时实验，多定位，Z堆叠，和去卷积。硬件和软件集成了最大的可靠性和图像纳入标准功能与 文件，处理，定量和分析。选项模块FRET技术，高级的时间间隔，通道不混溶，共定位，多孔板采集，......
荧光显微镜系统为高级的成像和分析 LAS X Widefield Systems徕卡AF6000是一个综合应用系统解决方案 给在荧光显微镜 和 图像分析中应用 包括延时实验，多定位，Z堆叠，和去卷积。硬件和软件集成了最大的可靠性和图像纳入标准功能与 文件，处理，定量和分析。选项模块FRET技术，高级的时间间隔，通道不混溶，共定位，多孔板采集，3D呈现和去卷积......
布鲁克工业CT SkyScan 2214可以用在珠宝行业领域，用来检测物体，可完成三维X射线显微成像项目。符合多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution。 有！那就是布鲁克的三维X射线显微成像系统（3D XRM） • 金刚石窗口x射线源，焦斑尺寸<500nm• 创新的探测器模块化设计，可支持 4 个探测......
布鲁克多量程纳米显微成像系统（XRM） SkyScan 2214参考多项行业标准。完成锂电池的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的三维图像项目。 三维X射线显微成像技术（3D XRM）利用X射线极强的穿透能力，获取样品内部信息，再根据计算断层成像（CT）获得三维图像，图像反映了样品内部不同物质在三维空间的分布，可用于缺陷检测，结构分析，物质识别，尺寸测量......
布鲁克多量程纳米显微成像系统（XRM） SkyScan 2214参考多项行业标准。完成土壤的检测。可以用在土壤行业领域中的原位机械性能测试项目。 使用原位的压缩，拉伸和温度样品平台，可以在扫描室内部实现机械性能实验。通过这种方式，样品的结构与力学性能之间的相关性就可以得到更详细的研究。 SKYSCAN 2214 是布鲁克推出的新纳米断层扫描系统，是显微CT......
荧光显微镜系统是高级的成像和分析工具，LASXWidefieldSystems徕卡AF6000是一个全面的解决方案，适用于荧光显微镜和图像分析应用，包括延时实验、多位置、Z堆叠和去卷积。该系统集成了硬件和软件，具有最高的可靠性和标准功能，包括文件、处理、定量和分析。此外，选件模块包括FRET技术、高级时间间隔、通道不混溶、共定位、多孔板采集、3D呈现和去卷积......
荧光显微镜系统为高级的成像和分析LASXWidefieldSystems徕卡AF6000是一个综合应用系统解决方案，在荧光显微镜和图像分析中应用包括延时实验，多定位，Z堆叠，和去卷积。硬件和软件集成了最大的可靠性和图像纳入标准功能与文件，处理，定量和分析。选项模块FRET技术，高级的时间间隔，通道不混溶，共定位，多孔板采集，3D呈现和去卷积技术扩展分析功能。......
荧光显微镜系统是高级成像和分析的LASXWidefieldSystems徕卡AF6000综合应用系统解决方案，用于荧光显微镜和图像分析应用，包括延时实验、多定位、Z堆叠和去卷积。硬件和软件集成了最大的可靠性和图像纳入标准功能，包括文件、处理、定量和分析。选项模块FRET技术、高级时间间隔、通道不混溶、共定位、多孔板采集、3D呈现和去卷积技术扩展了分析功能。为......