能谱如何分析
牛津仪器Xplore能谱探测器 Xplore是SEM常规分析所用新一代EDS探测器。探测器有效晶体面积为15/30mm2 ，应用范围广泛。Xplore使用了Ultim Max探测器中诸多新技术，它提供了实时EDS分析所需的快速数据采集，同时保证了常规分析所需的自动可靠的结果。速度Extreme电路与X1脉冲处理器的结合使Xplore能够以1,000......
牛津仪器能谱实时元素成像系统Azteclive可用于测定岩石，适用于Characterising Complex Rock Samples using Symmetry项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于电子/半导体行业领域。 Geological samples can be extremely challenging ......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme可用于测定材料，适用于形貌观察分析项目。并且参考多项行业标准Combined WD/ED Solutions for high spatial resolution microanalysis。可应用于地矿/有色金属行业领域。 Introduction Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发......
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme适用于Minerals and Metals项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Minerals and Metals等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 工艺矿物学与化学分析 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，可提供远远超越传统微米......
牛津仪器X射线能谱仪EDSAzteclive可用于测定Semiconductor Devices，适用于Semiconductor Devices项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于汽车/铁路/船舶行业领域。 Before volume production of semiconductor devices, it is ......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme适用于Polymer Materials项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Polymer Materials等样品。可应用于纳米材料行业领域。 层状聚合物结构的成像与失效分析 SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的......
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme用于测定Power Semiconductors，符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 失效分析 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extreme是U......
——Kratos公司是位于英国曼彻斯特的一家世界领先的成像自动型公司。作为世界上最早生产商品化X射线光电子能谱仪的厂家之一，现在已成为全球最大的分析仪器制造公司——岛津公司的全资子公司。从1997年开始，岛津/Kratos公司就开始研发一系列新技术，包括专利的磁沉浸透镜和专利的低能电子荷电中和系统，推出了AXISUltra型光电子能谱仪，并于2002年底推出......
标准主机设有Mg/AlKα双阳极非单色化X射线源，可进行高灵敏度大面积XPS分析，并可增加高温催化反应池等。● 最大功率达300W的大功率上照射X射线源，可实现无阴影的XPS分析● 锥形块体式阳极靶，具有极强的抗污染能力● Mo3d5/2最佳能量分辨率优于0.8eV● Ag3d5/2常规分析能量分辨率和灵敏度高达1.15eV@700kcps● 结合了数据采集......
标准主机配备Mg/AlKα双阳极非单色化X射线源，可实现高灵敏度大面积XPS分析，并可增加高温催化反应池等功能。● 最大功率达到300W的X射线源，可进行无阴影的XPS分析● 锥形块体式阳极靶，具有极强的抗污染能力● Mo3d5/2能谱最佳能量分辨率优于0.8eV● Ag3d5/2常规分析能量分辨率和灵敏度高达1.15eV@700kcps● Vision软件......