电镜样品制备 离子减薄方法
第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。核心优势:为使用 Autoloader 的透射制备冷冻断层扫描专用的冷冻......
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Gentle Mill 离子减薄仪/离子精修仪--用于制备高质量 TEM/FIB 样品Technoorg Gentle Mill 离子精修仪产品专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计。 Gentle Mill 型号非常适合要求样品无加工痕迹、表面几乎没有任何损坏的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。 同时，Gentle Mi......
迈科英诺型号UFM-2000精密离子减薄仪采用电磁及永磁体结合双聚焦离子枪设计，高电压离子束散开获得更大薄区，低电压汇聚提高精修效率。精密离⼦减薄仪精密离子减薄仪利用聚焦氩离子束 对样品上下表面同时进行轰击，利用动量交换方式实现对样品进行精细减薄，获得满足电子束穿透厚度的薄区供透射电镜观察。迈科英诺型号UFM-2000精密离子减薄仪采用电磁及永磁体结合双聚焦......
迈科英诺 UFM-2000 精密离子减薄仪独特聚焦离子束永磁体聚焦结合电磁聚焦，离子枪无耗材；束斑调节功能通过调节束斑尺寸可满足大薄区制样及快速精修；定点减薄配备X/Y方向定点减薄夹具，千分尺精确控制。迈科英诺型号UFM-2000精密离子减薄仪采用电磁及永磁体结合双聚焦离子枪设计，高电压离子束散开获得更大薄区，低电压汇聚提高精修效率。精密离⼦减薄仪精密离子减......