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产品详情HATA样品杆系统是一个在设计上采用虚拟枢轴的新平台；样品杆支架周围没有支撑框架。可以实现双倾杆结合可拆卸样品头，适用于FEI Tecnai 的 Super Twin系列及Titan，JEOL高角极靴型TEM等仪器。技术规格X（α）角最大倾转范围：±80°（受限于样品台的最大倾转角）Y（β）角最大倾转范围：±7.5°（由TEM操作面板的β......
仪器简介：GATAN推出的GIF能量过滤器系统：支持所有EELS技术应用，可进行基于EELS能量损失谱的成分分析；也可工作在能量过滤模式，形成基于EFTEM成像的快速方便的元素成分分析。更可通过EFTEM Spectrum Image功能，对连续的能量段进行采样，快速的实现元素分布的连续信息。亦可配合STEM技术，得到高空间分辨率的EELS分析，......
TecnaiFEI Tecnai™ 透射电子显微镜 (TEM) 旨在为生命科学、材料科学、纳米技术以及半导体和数据存储行业提供真正的通用成像和分析解决方案。Tecnai G2 系列将现代技术与科学界极富创新能力且严格的要求完美结合起来，而且该产品系列中包括将近 20 款型号。更多信息，您可访问： ......
仪器简介：Tecnai G2透射电子显微镜是FEI生产的新型、性能优越的艺术级仪器。Tecnai G2运行在Windows XP的操作系统下，提供了高性能和多功能, 用户在使用方便、个性化和安全环境下可轻易获得大量的高质量分析成果。Tecnai G2使透射电子显微镜的操作比以往更方便简捷。 在Tecnai G2上, 所有的操作和探测系统......
仪器简介：对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料的非常有效的技术。它能够产生很多的信号, 这些信号携带了不同类型的有用信息。Tecnai G220经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场......
产品描述 Talos L120C 是 Tecnai Spirit 的后继者，一种具有全新设计和操作概念的新型 120 kV 扫描/透射电子显微镜（S/TEM）。凭借光学稳定性、使用便宜性的提升以及更快更准的放大过程带来的高通量，120 kV 电子显微镜向未来迈进了一大步。 Talos L120C ......
透射电子显微镜 (Transmission ElectronMicroscope，简称TEM) ，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束......
透射电子显微镜工作原理是由电子枪发射出来的电子束，在真空通道中沿着镜体光轴穿越聚光镜，通过聚光镜将之会聚成一束尖细、明亮而又均匀的光斑，照射在样品室内的样品上;透过样品后的电子束携带有样品内部的结构信息，样品内致密处透过的电子量少，稀疏处透过的电子量多:经过物镜的会聚调焦和初级放大后，电子束进入下级的中间透镜和第1、第2投影镜进行综合放大成像，最终被放大了的......
吸收像:当电子射到质量、密度大的样品时主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基于这种原理。产品描述 Talos L120C 是 Tecnai Spirit 的后继者，一种具有全新设计和操作概念的新型 120 kV 扫描/透射电子显微镜（S/TEM）。凭......
行射像: 电子束被样品衍射后，样品不同位置的衍射波振幅分布对应于样品中晶体各部分不同的衍射能力，当出现晶体缺陷时，缺陷部分的衍射能力与完整区域不同，从而使衍射波的振幅分布不均匀，反映出晶体缺陷的分布。产品描述 Talos L120C 是 Tecnai Spirit 的后继者，一种具有全新设计和操作概念的新型 120 kV 扫描/透射......