fei tecnai 20
无损三维电气故障定位随着“超越摩尔定律”技术的普及，封装和组装相关缺陷变得越来越难以识别。互连更加精细、更加复杂；芯片和封装被堆叠并平铺为复杂结构。焊点间距更小，而基板则采用更高的图案和嵌入式组件。缺陷在不断增加，缺陷检测则变得更加困难。通过使用具有最高灵敏度的高分辨率锁相热成像 (LIT)，Thermo Scientific™ ELITE™ 系统为各种缺陷......
Thermo Scientific™ Quattro™ 将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电子显微镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选......
Thermo Scientific™ Explorer™ 4 Analyzer 是用于颗粒物分布统计过程控制的解决方案，帮助确定制造工艺是否受控、查找颗粒以及大批量颗粒表征。Explorer 4 Analyzer 拥有强大的自动化和报告功能，占地面积小，使用维护成本低，对于寻求改善生产工艺和质量同时充分利用预算的企业而言是最佳解决方案。 Explorer 4......
TecnaiFEI Tecnai™ 透射电子显微镜 (TEM) 旨在为生命科学、材料科学、纳米技术以及半导体和数据存储行业提供真正的通用成像和分析解决方案。Tecnai G2 系列将现代技术与科学界极富创新能力且严格的要求完美结合起来，而且该产品系列中包括将近 20 款型号。更多信息，您可访问：http://www.fei.com/pro......
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
仪器简介：对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料的非常有效的技术。它能够产生很多的信号, 这些信号携带了不同类型的有用信息。Tecnai G220经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场......
仪器简介：Tecnai G2透射电子显微镜是FEI生产的新型、性能优越的艺术级仪器。Tecnai G2运行在Windows XP的操作系统下，提供了高性能和多功能, 用户在使用方便、个性化和安全环境下可轻易获得大量的高质量分析成果。Tecnai G2使透射电子显微镜的操作比以往更方便简捷。 在Tecnai G2上, 所有的操作和探测系统......
在大体积样品上获得最高质量三个方向分辨率一致三维数据生命科学专用的 Thermo Scientific Volumescope 2 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是我们最先进的连续切面成像系统（Serial Block Face Imaging，SBFI）。该系统简单易用，让使用者能够完美精准的控制实验，已......
点击查看下载透射电镜（原FEI) 赛默飞 其他资料相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X 射线能谱仪（EDS）结合使用，将形貌特征和......
点击查看下载（原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本相关资料，进一步了解产品。 观测敏感的生物样本时，过高的成像电压带来的电子束会损伤样本，从而无法在细胞研究中观测关键细节。Verios XHR 扫描电子显微镜 (SEM) 最低可在 1kV 的电子束电压下工作，因而能最大限度减少样本干扰，同时又不会削弱分辨率和对比度。生物研究人员现在可以处......