微区 XRF 是 SEM 中 EDS 分析的互补分析技术扫描电子显微镜 (SEM)的微区 X 射线荧光 (Micro-XRF) 技术是与传统能量分散光谱 (EDS)能力补充的无损分析技术。这种分析技术对于未知样品中元素成分的表征非常重要,而未知样品的尺寸可以从厘米尺寸的不均匀样品到微米尺寸的颗粒X射线激发源为微量元素的检测带来了更高的灵敏度(对于某些元素,检......
能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面,元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快了XRF分析仪器的现代化进程。&nbs......
主要特点:1.M6 JETSTREAM可以分析水平放置的样品,还可以分析垂直放置的样品。2.在高激发强度以及样品台的快速移动情况下,仍可实现快速检测。3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之内,根据样品结构及所需空间分辨率调整到相应的尺寸。4.采用布鲁克先进的XFlash®硅漂移探测器,该探测器具有很高的计数率能力,在很宽的计数率范围内拥有良好的能......
天瑞仪器系列原子荧光光谱仪AFS200可用于测定/,适用于/项目。并且参考多项行业标准。可应用于多个行业领域。 AFS200S 氢化物发生进样方式 双蠕动泵断续流动 双蠕动泵断续流动 顺序注射与蠕动泵联合进样 顺序注射与蠕动泵联合进样 气路控制方式 集成阀岛 ......
一、核心技术硬件核心技术:单色化聚焦激发技术全聚焦双曲面弯晶仅衍射X射线管出射谱中高强特征X射线,将入射到样品的X射线单色化并聚焦到样品一点,因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外,不存在连续散射背景,从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。软件核心技术:全息基本参数法XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收......
产品简介传统光纤探头在进行样品透射或反射率测量时,受限于其光斑尺寸,最小采样直径通常仅可达 1–2 mm。这一限制不仅降低了空间光谱分辨率,也限制了对微小样品区域的有效分析。为满足微尺度下材料光学特性研究的需求,如海光电推出了微区透反射光谱测量系统,将光谱分析技术与显微光学系统深度融合,实现微米级区域的光谱信息采集。该系统采用光纤共焦照明结构,与传统科勒照明......