微区荧光光谱仪
微区 XRF 是 SEM 中 EDS 分析的互补分析技术扫描电子显微镜 （SEM）的微区 X 射线荧光 （Micro-XRF） 技术是与传统能量分散光谱 （EDS）能力补充的无损分析技术。这种分析技术对于未知样品中元素成分的表征非常重要，而未知样品的尺寸可以从厘米尺寸的不均匀样品到微米尺寸的颗粒X射线激发源为微量元素的检测带来了更高的灵敏度（对于某些元素，检......
能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。&nbs......
主要特点：1.M6 JETSTREAM可以分析水平放置的样品，还可以分析垂直放置的样品。2.在高激发强度以及样品台的快速移动情况下，仍可实现快速检测。3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之内，根据样品结构及所需空间分辨率调整到相应的尺寸。4.采用布鲁克先进的XFlash®硅漂移探测器，该探测器具有很高的计数率能力，在很宽的计数率范围内拥有良好的能......
一、核心技术硬件核心技术：单色化聚焦激发技术全聚焦双曲面弯晶仅衍射X射线管出射谱中高强特征X射线，将入射到样品的X射线单色化并聚焦到样品一点，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外，不存在连续散射背景，从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。软件核心技术：全息基本参数法XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收......
产品简介传统光纤探头在进行样品透射或反射率测量时，受限于其光斑尺寸，最小采样直径通常仅可达 1–2 mm。这一限制不仅降低了空间光谱分辨率，也限制了对微小样品区域的有效分析。为满足微尺度下材料光学特性研究的需求，如海光电推出了微区透反射光谱测量系统，将光谱分析技术与显微光学系统深度融合，实现微米级区域的光谱信息采集。该系统采用光纤共焦照明结构，与传统科勒照明......