反射光谱薄膜测厚仪

仪器简介:热电瑞美公司RM200在线测量和控制系统是专门设计应用于薄膜生产线,可以在线测量薄膜的厚度,并反馈信号自动控制模头螺栓,使薄膜厚度均匀,提高产品质量,降低原材料消耗。热电瑞美公司在上海建有Demo中心,将zei新的EPOS操作系统和扫描架模型展览出来,可以为用户提供专业的培训服务。热电瑞美公司产品的主要应用范围有:   ......

球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并且低成本的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中,磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体部分投影面积的几何参数。在得知了......

奥谱天成光纤光谱仪ATP5001可以用在电子/半导体行业领域,用来检测电子元器件,可完成反射率项目。符合多项行业标准光谱范围(nm):340~850(可定制)。 颜色的测量对光谱仪分辨率要求不高, CIE 的光源和颜色匹配函数间隔都在 0.5nm 甚至 5nm,奥谱天成微 型光纤光谱仪的分辨率足够满足测试要求,大型光栅光谱仪的高分辨率不能获得更好的颜色检测精......

赛默飞在线测厚RM210AF/AS用于测定水泥,煤,矿浆,钢板,薄膜,电池隔膜,食品,药品,符合行业标准。适用解决方案项目。 材料与矿物Materials and Minerals (M&M)相关市场、产品和解决方案介绍 铝箔和铝冷轧测厚仪......

SA-Stage-C单点反射测量支架是一个光纤探头支架,用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。这一反射光纤探头支架适于固定直径达6.35mm的反射光纤探头和其它取样设备,可以在一个不锈钢支柱上上下滑行,调节高度可达80mm。产品详情项目值规格SA-Stage-C尺寸Φ150mm×厚10mm高度垂直可调高度80mm材质铝合金表面处理亚光发黑适配产品......

SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的,能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射测量和透射测量的需求。 产品功能示意图    产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ......

NS系列台阶薄膜测厚仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器。采用线性可变差动电容传感器(LVDC),具有亚埃级分辨率,13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差,使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。产品功能1.参数测量功能1)台阶高度:能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工......

中图仪器NS系列薄膜台阶测厚仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC,具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率,同时,其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术,使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。NS系列薄膜台阶测厚仪应用场景适应性强,其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求,可测量沉积薄膜的台阶高度、抗蚀剂(软膜材料)的台阶......

微区透反射光谱测量系统

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如海光电 光纤光谱仪

型号:微区透反射光谱测量系统

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产品简介传统光纤探头在进行样品透射或反射率测量时,受限于其光斑尺寸,最小采样直径通常仅可达 1–2 mm。这一限制不仅降低了空间光谱分辨率,也限制了对微小样品区域的有效分析。为满足微尺度下材料光学特性研究的需求,如海光电推出了微区透反射光谱测量系统,将光谱分析技术与显微光学系统深度融合,实现微米级区域的光谱信息采集。该系统采用光纤共焦照明结构,与传统科勒照明......

综合概述本仪器是一台整合了微区拉曼光谱、微区红外光谱和光学数码显微镜的先进设备,是三者技术的无缝结合。可以分别利用红外显微镜和拉曼光谱仪对纳米材料表面形貌、颗粒度、粗糙度、反射光谱和拉曼光谱性能进行表征、分析,从而对样品提供更加全面的信息,同时可以提供锐利的显微图像。这样的集成,能让用户提高工作效率,将更多的时间用于数据采集和分析,而无需为繁琐的仪器操作而苦......

厂商新闻
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