反射光谱测厚仪
奥谱天成光纤光谱仪ATP5001可以用在电子/半导体行业领域，用来检测电子元器件，可完成反射率项目。符合多项行业标准光谱范围（nm）：340~850(可定制)。 颜色的测量对光谱仪分辨率要求不高， CIE 的光源和颜色匹配函数间隔都在 0.5nm 甚至 5nm，奥谱天成微 型光纤光谱仪的分辨率足够满足测试要求，大型光栅光谱仪的高分辨率不能获得更好的颜色检测精......
反射光谱特性系指地物反射电磁辐射的能力，随所反射的电磁波波长而变化的特性。如以横坐标表示波长的变化，纵坐标表示其反射率（或反射亮度系数）可构成反映反射光谱特性的曲线，称为反射光谱（特性）曲线。特征★ 超高分辨率，最高可达0.01nm；★ 四款不同焦长可选：210，350，510 和 760mm★ 最大光谱范围：180-2500nm（可按需求定制）★ 塔式转动......
反射光谱地物岩石波谱反射率矿物 矿物的反射光谱,是一种镜面反射光谱。它是指在一定的照明条件下,矿物的反射率随波长变化的特征曲线。 反射光谱曲线系指地物反射电磁辐射的能力,随所反射的电磁波波长而变化的特 性。如以横坐标表示波长的变化,纵坐标表示其反射率(或反射亮度系数)可构 成反映反射光谱特性的曲线,称为反射光谱(特性)曲线。一.产品概述ATP7810......
SA-Stage-C单点反射测量支架是一个光纤探头支架，用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。这一反射光纤探头支架适于固定直径达6.35mm的反射光纤探头和其它取样设备，可以在一个不锈钢支柱上上下滑行，调节高度可达80mm。产品详情项目值规格SA-Stage-C尺寸Φ150mm×厚10mm高度垂直可调高度80mm材质铝合金表面处理亚光发黑适配产品......
SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的，能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射测量和透射测量的需求。 产品功能示意图 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ......
TX3300全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀，专门设计研发用于痕量元素分析的便携式光谱仪，利用全反射X射线的原理，以极低的背景噪声和高灵敏度，可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物，进行多元素痕量分析，为痕量元素分析领域提供了一种高效率、低成本的解决方案。TX3300体积小巧，便于携带和运输，非常适合野外分析或移动实验室的需求。具有高性能......
TX3800便携式全反射X射线荧光光谱仪专为精准检测而设计，能够在极低背景噪声下实现高灵敏度检测，可快速完成液体、悬浮液、固体及污染物样品中的痕量元素定性与定量分析，为用户提供高效可靠的分析手段，为痕量元素分析领域的高性能解决方案。TX3800凭借其制样简便、性能卓越、操作便捷、环保节能及经济高效等优势，成为环境监测、科研、质量控制等领域的理想分析工具。该仪......
产品简介传统光纤探头在进行样品透射或反射率测量时，受限于其光斑尺寸，最小采样直径通常仅可达 1–2 mm。这一限制不仅降低了空间光谱分辨率，也限制了对微小样品区域的有效分析。为满足微尺度下材料光学特性研究的需求，如海光电推出了微区透反射光谱测量系统，将光谱分析技术与显微光学系统深度融合，实现微米级区域的光谱信息采集。该系统采用光纤共焦照明结构，与传统科勒照明......