光学薄膜折射率测试
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。工作原理光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它利用波长范围最宽为200-17......
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价，精度高无复杂设定，操作简单，短时间内即可上手外观新颖，操作性提高非线性*小二乘法，实现光学常数解析（n：折射率、k：消光系数）对应膜种○ 多层膜 &nbs......
A670/A630 全自动折光仪配备了高性能CCD 感光部件，能够通过信号采集和分析处理技术，完成各种样品的分析实验。能够自动测量透明、半透明、深色、黏稠状等各类液体的折射率(nD) 和糖溶液的质量分数（锤度Brix），具有准确、可靠、速度快、操作方便等优点。符合FDA 21 CFR Part 11 要求的用户分级管理、审计追踪，电子签名以及数据防篡改。全自......
安捷伦紫外Cary 7000适用于折射率项目，参考多项行业标准。可以检测单晶光学材料等样品。可应用于高分子材料行业领域。 高级材料的生产需要快速、准确和最少的劳动密集型材料参数测定。折射率是光学材料特别是晶体材料应用所需的主要参数之一。本文主要利用分光光度计搭配可多角度自动控制的全能附件，采用两种分光光度法，对不同类型的材料，特别是单晶光学材料的折射率进行了......
安捷伦Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计Cary 5000适用于折射率项目，参考多项行业标准。可以检测单晶光学材料等样品。可应用于高分子材料行业领域。 高级材料的生产需要快速、准确和最少的劳动密集型材料参数测定。折射率是光学材料特别是晶体材料应用所需的主要参数之一。本文主要利用分光光度计搭配可多角度自动控制的全能附件，采用两种分光光度法，对不同类......
半导体材料光生伏特效应是太阳能电池运行的基本原理。现阶段半导体材料的光伏应用已经成为一大热门 ，是目前世界上增长最快、发展最好的清洁能源市场。太阳能电池的主要制作材料是半导体材料，判断太阳能电池的优劣主要的标准是光电转化率 ，光电转化率越高 ，说明太阳能电池的工作效率越高。根据应用的半导体材料的不同 ，太阳能电池分为晶体硅太阳能电池、薄膜电池以及III-V族......
触摸屏（Touch Panel）又称为“触控屏”、“触控面板”，是一种可接收触头等输入讯号的感应式液晶显示装置，当接触了屏幕上的图形按钮时，屏幕上的触觉反馈系统可根据预先编程的程式驱动各种连结装置，可用以取代机械式的按钮面板，并借由液晶显示画面制造出生动的影音效果。ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，......
综合概述 SM200是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要薄膜有 一定程度的透射，SM200就能根据反射回来的干涉光 谱拟合计算出薄膜的厚度，以及其他光学常数如反射 率、折射率和消光系数等，其厚度最大测绘范围可以 ......
综合概述 SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要薄膜有 一定程度的透射，SM230就能根据反射回来的干涉光 谱拟合计算出薄膜的厚度，其厚度最大测绘范围可以 达到5nm~250um，并支持测量点位路径绘制及......
中文名：聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）英文名：Poly(methyl methacrylate)(PMMA)纯度：按GPC计算的平均Mw~120000货号：P434521Cas号：9011-14-7产品介绍：聚（甲基丙烯酸甲酯）（PMMA）是无定形、透明的热塑性聚合物。PMMA 的折射率为 1.49 ，因而被认为是光学聚合物。因此，它被用于光纤。由于其较低的吸......