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Serial Block-face SEM 3View肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与View®2XP（Gatan公司制造）结合使用，能对样品进行自动切割，自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构，可以对精细结构进行三维分析。产品特点：肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与3View®2XP（G......
雷尼绍是最早实现拉曼光谱与扫描电镜联用的厂家之一，其设计的两种设备的连接接口—化学与结构分析仪（SCA）具有非常高的灵活性，可实现市面上电镜制造厂商多种常用型号的SEM与雷尼绍inVia拉曼谱仪的连接。SCA提供了一种SEM内的分析技术，补充了光学显微镜为基础的拉曼光谱学，克服了SEM内传统的分析技术EDS的部分局限性，可原位完成Raman、SEM、EDS、......
Serial Block-face SEM 3View肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与View®2XP（Gatan公司制造）结合使用，能对样品进行自动切割，自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构，可以对精细结构进行三维分析。产品特点：肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与3View®2XP（G......
系统简介JSM-7100F、7800F和3View®2XP（Gatan产品）组合使用，能获得大量的大范围的切片图像。这样就能够进行数百微米区域的三维重构。通过三维重构能够观察二维图像上无法看到的细胞的深处结构。操作 自动、反复地切割样品和获取图像，能获得大量的切片图像。 对获得的切片图像，通过软件进行堆叠、调节、生成三维图像。应用数据 小......
应用数据 小鼠大脑 突触细分数据黄色区域：突触囊泡绿化面积：突触后部增厚部分红色区域：突触后部样品: 承蒙瑞典隆德大学医学系生物成像中心的Deniz Kirik 和 Lina Gefors教授产品规格：JSM-7100FJSM-7800F分辨率1.2nm (30kV)、3.0nm (1kV)0.8nm (15kV)、1.2nm (1kV)加速电压0......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载赛默飞 SEM扫描电子显微镜Prisma E 其他资料相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X 射线能谱仪（EDS）结合使......
点击查看下载扫描电镜Prisma E赛默飞 应用于其它环境/能源相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X 射线能谱仪（EDS）结合使用......
点击查看下载赛默飞 SEM扫描电子显微镜扫描电镜 应用于其他化工相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X 射线能谱仪（EDS）结合使用......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......