三维表面光度仪

安东帕全自动比表面和孔径分布分析仪Autosorb-iQ可用于测定粉体,适用于比表面积项目。并且参考多项行业标准安东帕。可应用于制药/仿制药行业领域。 因为氮气占空气中的比例为78%,其饱和蒸汽压约比当地大气压高10torr。出现以下情况,说明液氮明显不纯:     新一代气体吸附分析仪——吸附领域新纪元的开始安东帕公司研发的z......

点击查看下载SurPASS 3安东帕固体表面 Zeta 电位分析仪 表面特性表征相关资料,进一步了解产品。 表面力学特性分析 在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息,并可检测表面性质中zei微小的变化。Zeta电位:范围:所用测量原......

中图仪器SuperViewW光学三维表面轮廓形貌仪能以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。典型结果......

中图仪器SuperViewW白光干涉仪三维光学表面测量系统让轮廓测量价格更为实惠。应用领域广泛,操作简便,可自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数,适用于各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、孔隙间隙、台阶高度、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、波纹度、面形轮廓、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。SuperViewW白......

中图仪器SuperViewW系列白光干涉仪三维表面测量系统以白光干涉技术为原理结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸,可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。SuperViewW系列白光干涉仪三维表面测量系统可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、......

中图仪器SuperViewW材料表面光学三维形貌仪也叫白光干涉仪、光学3D表面轮廓仪。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。工作原理照明光束经半反半透分光......

SuperViewW1白光干涉三维表面测量系统以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。它集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。SuperViewW1白光干涉三维表面测量系统广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器......

中文名:三维石墨烯英文名:3D graphene货号:G494572产品介绍:产品规格与参数sku名称规格G494572-01三维石墨烯60%G494572-02三维石墨烯60%查看阿拉丁官网此产品相关对应页面:https://www.aladdin-e.com/zh_cn/G494572.html产品目录:材料科学 > 电子材料 > 碳纳米材料(碳纳米管、......

SuperViewW白光三维表面形貌仪基于白光干涉原理,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW白光三维表面形貌仪测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到......

产品概述三维荧光分光光度计是用于扫描液相荧光标记物所发出的荧光光谱的一种仪器。其能提供包括激发光谱、发射光谱以及荧光强度、量子产率、荧光寿命、荧光偏振等许多物理参数,从各个角度反映了分子的成键和结构情况。通过对这些参数的测定,不但可以做一般的定量分析,而且还可以推断分子在各种环境下的构象变化,从而阐明分子结构与功能之间的关系。可以用于液体和固体样品的扫描。针......

厂商新闻
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