扫描电子显微法
技术参数：1.分辨率: 二次电子: 高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV 高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项) 低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV 环境真空模式 3.0nm @ 30kV 背散射电子 4.0nm @ 30kV2.样品室压力最高达2600Pa3.加速电压200V ～ 30kV，连......
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式，并可灵活配置，多种配件选项能够满足各种需求。学术和工业研究实验室需要利用现代化SEM从最广泛的样品中获得大量数据，并获得出色的图像质量。同时，由于多数实验室均为多人操作或管理设备，SEM要......
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号，既节省了时......
Talos先进科技集于一身 Talos™ 是新一代 TEM 产品，致力于让用户迅速访问二维和三维数据，从而专注于研究发现。Talos 的配置适合开展材料研究和生命科学研究，是一款融合了众多创新技术的多功能系统，能够在未来数年里满足您的研究需求。Talos 的材料科学应用Talos 可以在多个维度开展快速、精确、量化的材料表征分析，而且配备了全新的软......
Helios DualBeam™扫描电子显微镜......
TecnaiFEI Tecnai™ 透射电子显微镜 (TEM) 旨在为生命科学、材料科学、纳米技术以及半导体和数据存储行业提供真正的通用成像和分析解决方案。Tecnai G2 系列将现代技术与科学界极富创新能力且严格的要求完美结合起来，而且该产品系列中包括将近 20 款型号。更多信息，您可访问： ......
仪器简介：Tecnai G2透射电子显微镜是FEI生产的新型、性能优越的艺术级仪器。Tecnai G2运行在Windows XP的操作系统下，提供了高性能和多功能, 用户在使用方便、个性化和安全环境下可轻易获得大量的高质量分析成果。Tecnai G2使透射电子显微镜的操作比以往更方便简捷。 在Tecnai G2上, 所有的操作和探测系统......
岛津电子探针显微分析仪EPMA-8050G可用于测定光纤，适用于使用岛津电子探针 EPMA 对不同类型的光纤进行线、面分析测试项目。并且参考多项行业标准暂无。可应用于多个行业领域。 使用岛津电子探针EPMA可对不同类型的光纤进行线、面分析测试。从单根光纤试样的横截面的元素线分布和面分布的测试结果可以观察掺杂元素的含量及扩散分布情况。凭借其在微区分析的强大......
岛津电子探针EPMAEPMA-8050G用于测定通信光纤 ，符合行业标准。适用EPMA测试项目。 光纤即光导纤维(Optical Fiber)，是以光脉冲的形式传输信号，材质以玻璃或有机玻璃为主的 网络传输介质。光纤通信是现代信息传输的重要方式之一。它具有重轻、通信容大、信号损耗 小传输距离长、保密性能好、不受电磁干扰以及原材料丰富等优点。 光纤由三部分构成......