FEI Inspect F50
inVia™ InSpect可识别样品制备困难或费时的材料。例如，硬结晶粉末、陶瓷碎片和玻璃碎片无需样品制备即可轻松分析。InSpect还具有强大的共焦拉曼能力，能够精确分析，而不受周围相邻材料的干扰，这一点在分析包含多层、空隙或包裹体的复杂结构时至关重要。“雷尼绍inVia显微拉曼光谱仪是市场上最好的光谱仪之一，以其超高灵敏度和整体效率脱颖而出。我们在in......
F50薄膜厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。系统中预设了许多极坐标形、......
无损三维电气故障定位随着“超越摩尔定律”技术的普及，封装和组装相关缺陷变得越来越难以识别。互连更加精细、更加复杂；芯片和封装被堆叠并平铺为复杂结构。焊点间距更小，而基板则采用更高的图案和嵌入式组件。缺陷在不断增加，缺陷检测则变得更加困难。通过使用具有最高灵敏度的高分辨率锁相热成像 (LIT)，Thermo Scientific™ ELITE™ 系统为各种缺陷......
Thermo Scientific™ Quattro™ 将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电子显微镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选......
Thermo Scientific™ Explorer™ 4 Analyzer 是用于颗粒物分布统计过程控制的解决方案，帮助确定制造工艺是否受控、查找颗粒以及大批量颗粒表征。Explorer 4 Analyzer 拥有强大的自动化和报告功能，占地面积小，使用维护成本低，对于寻求改善生产工艺和质量同时充分利用预算的企业而言是最佳解决方案。 Explorer 4......
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
在大体积样品上获得最高质量三个方向分辨率一致三维数据生命科学专用的 Thermo Scientific Volumescope 2 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是我们最先进的连续切面成像系统（Serial Block Face Imaging，SBFI）。该系统简单易用，让使用者能够完美精准的控制实验，已......
点击查看下载（原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本相关资料，进一步了解产品。 观测敏感的生物样本时，过高的成像电压带来的电子束会损伤样本，从而无法在细胞研究中观测关键细节。Verios XHR 扫描电子显微镜 (SEM) 最低可在 1kV 的电子束电压下工作，因而能最大限度减少样本干扰，同时又不会削弱分辨率和对比度。生物研究人员现在可以处......
点击查看下载雷尼绍共焦显微inVia™ InSpect 其他资料相关资料，进一步了解产品。 如需了解更多雷尼绍inVia共焦显微拉曼光谱仪在生命科学领域的应用，请访问www.renishaw.com.cn/bio。 inVia™ InSpect可识别样品制备困难或费时的材料。例如，硬结晶粉末、陶瓷碎片和玻璃碎片无需样品制备即可轻松分析。InSpect还具有强......
inVia™InSpect可以识别制备困难或费时的材料样品。例如，硬结晶粉末、陶瓷碎片和玻璃碎片无需制备样品即可进行轻松分析。此外，InSpect具有强大的共焦拉曼能力，能够精确分析，而不受周围相邻材料的干扰，特别适用于分析包含多层、空隙或包裹体的复杂结构。雷尼绍inVia显微拉曼光谱仪市场上为最佳的光谱仪之一，以超高灵敏度和整体效率著称。我们在inVia系......