扫描电镜(Hitachi SU8010,日本日立公司)
创新点：报告生成简单化 仪器支持输出Microsoft公司发行的Word®、Excel®、PowerPoint®格式，预置图像插入模板，生成报告非常简单。 2．可根据观察目的设置仪器 样品仓内的真空度及加速电压有多种选择，可根据需求自行设置。 3．简化寻找视野、图像拍摄、图像确认等一系列操作过......
日立高分辨场发射扫描电镜 Hitachi SU8010产品介绍： 日立2005年在中国推出了S-4800型高分辨场发射扫描电镜，由于出色的应用性能、良好的稳定性和简易的维护，收到了各界用户的一致好评。 日立2011年新推出了它的后续机型----SU8010，它继承了S-4800的优点，性能有进一步提高，1kv使用减速功能后，分辨率提升到1.3nm，相对于......
二手日立S-4300场发射电镜设计具有以下特点：1） 高亮度光源肖特基场发射扫描电子显微镜2） 高探针电流3） 长、短程电子束稳定4） 高分辨率S－4300SE可以与多种附件相结合，如阴J发光（CL），背反射电子衍射图形（EBSP），X－射线能谱（EDX），电子描画(EB)。技术指标二次电子成像分辨率：1.5nm(30kV), 5.0nm(1kV)20x～5......
点击查看下载扫描电镜 双束加工观察系统日本电子 样本相关资料，进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者，近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好，稳定性强且智能化程度高，操作得心应手，是材料表征和分析的绝佳选择。 JIB-4700F 双束加工观察系统随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨......
Hitachi 液相自动进样针 体积 末端类型 货号 L7200/7250、AS1000/2000/4000 &......
功能特点：1. 高分辨模式，高束流模式。大工作距离模式，磁性样品模式等多种工作模式。2. 采用新型E×B式探测器，可选择接受二次电子像或背散射像。3. 配有电子束减速功能，提高了图象质量。4. 配有电制冷能谱仪，可进行定点元素成分定性和无标样定量分析，并进行元素线扫描、面分布的分析。仪器说明：1. ......
FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域。近年来，以Materials Integration为代表，其应用领域及用途在不断护展，短时间内获取大量数据，减轻作业负荷成为市场的一大需求。为满足这一需求，此次特推出的SU8600系列秉承了......
简介该设备支持超大/超重样品测试，能分别搭载最大直径300mm、重量5kg的样品，拥有大视野观察功能，并具备自动化功能以提高操作性能。通过自动光路调整和各种自动化功能，样品设置完后立即可以开始观察。此外，还安装有“Intelligent Filament Technology”软件，自动监控钨灯丝的状况，确保长时间测试过程中的连续性。1) 支持超大/超重样品......