荧光寿命检测
HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，......
HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。在细胞科学、生物物理和材料科学领域，重要变化经常会发生在时间和空间的微小尺度里。时间分辨荧光显微镜是研究细胞结构和纳米材料领域中动态事件的终极工具。与传统的荧光强度成像（由荧光显微镜获得）不同，荧光寿命是......
LIFA荧光寿命系统附件LIFA是适用于荧光寿命显微成像（FLIM）。该设备可以利用频域技术在任何宽场显微荧光成像系统获得寿命变化相关图像。系统包含TRiCAM M可调制型像增强CCD相机，可调制光源，调制控制器，定制电脑以及LI-FLIM软件。像增强相机包含像增强器，CCD相机，可以获得*高增益和采集速率。LIFA荧光寿命系统附件关键特点：精准的......
分子荧光堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统 荧光寿命：时域荧光或频域荧光
参考成交价格： 暂无
型号：DeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统
堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统用于测定时域荧光,频域荧光，符合行业标准0。适用荧光寿命项目。 HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。新一代荧光寿命测试系统-DeltaPro，其独一无二的高性能以......
DeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统堀场HORIBA分子荧光 可检测时域荧光,频域荧光
参考成交价格： 暂无
型号：DeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统
堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统适用于荧光寿命项目，参考多项行业标准0。可以检测时域荧光,频域荧光等样品。可应用于多个行业领域。 多种光源可选，软件直接控制，因此在DeltaPro系统上无需更换控制器，即可实现25ps~1s的寿命测定。当选择NanoLED 或 DeltaDiode激光二极管光源时，系统可以测定2......
堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统可用于测定时域荧光,频域荧光，适用于荧光寿命项目。并且参考多项行业标准0。可应用于多个行业领域。 HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。新一代荧光寿命测试系统-De......
堀场HORIBA分子荧光FluoroCube / UltraFast适用于寿命衰减项目，参考多项行业标准0。可以检测NATA等样品。可应用于蛋白行业领域。 HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见......
堀场HORIBA分子荧光FluoroCube / UltraFast适用于寿命衰减项目，参考多项行业标准0。可以检测NATA等样品。可应用于蛋白行业领域。 • 激发/发射单色仪：Seya-Namioka型，波长可调（200~800 nm），与样品仓盖之间集成安全锁，同步手动调节狭缝宽度（1~32nm）&n......
堀场HORIBA荧光寿命测试系统FluoroCube / UltraFast用于测定硅纳米颗粒，符合行业标准0。适用荧光各向异性研究项目。 HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与......
STELLARIS FALCONFLIM荧光寿命成像显微镜清晰的对比，即时产生寿命成像STELLARIS FALCON（FAst Lifetime CONtrast，快速寿命对比）是功能成像的未来发展方向。 利用荧光寿命成像的强大性能来研究细胞生理学并探索活细胞动力学。 STELLARIS FALCON 是一款完全整合的荧光寿命成像 (FLIM) 解决方......