天美 荧光寿命分析
HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，......
HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。在细胞科学、生物物理和材料科学领域，重要变化经常会发生在时间和空间的微小尺度里。时间分辨荧光显微镜是研究细胞结构和纳米材料领域中动态事件的终极工具。与传统的荧光强度成像（由荧光显微镜获得）不同，荧光寿命是......
LIFA荧光寿命系统附件LIFA是适用于荧光寿命显微成像（FLIM）。该设备可以利用频域技术在任何宽场显微荧光成像系统获得寿命变化相关图像。系统包含TRiCAM M可调制型像增强CCD相机，可调制光源，调制控制器，定制电脑以及LI-FLIM软件。像增强相机包含像增强器，CCD相机，可以获得*高增益和采集速率。LIFA荧光寿命系统附件关键特点：精准的......
分子荧光堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统 荧光寿命：时域荧光或频域荧光
参考成交价格： 暂无
型号：DeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统
堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统用于测定时域荧光,频域荧光，符合行业标准0。适用荧光寿命项目。 HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。新一代荧光寿命测试系统-DeltaPro，其独一无二的高性能以......
堀场HORIBA分子荧光FluoroCube / UltraFast适用于寿命衰减项目，参考多项行业标准0。可以检测NATA等样品。可应用于蛋白行业领域。 • 激发/发射单色仪：Seya-Namioka型，波长可调（200~800 nm），与样品仓盖之间集成安全锁，同步手动调节狭缝宽度（1~32nm）&n......
天美分子荧光FL970用于测定荧光试剂，符合行业标准。适用近红外荧光试剂的特性的检测项目。 在FL970荧光分光光度计上标配的检测器的R928光电倍增管可以使检测波长延伸至900 nm，可以用于对新开发近红外荧光试剂的特性的检测，有着良好的灵敏度以光谱响应。 多种光谱技术集于一身 -高灵敏度和宽范围的荧光光谱和生物发光、化学发光、电致发光光谱测量 -......
天美分子荧光FL970可以用在多个行业领域，用来检测荧光试剂，可完成近红外荧光试剂的特性的检测项目。符合多项行业标准。 在FL970荧光分光光度计上标配的检测器的R928光电倍增管可以使检测波长延伸至900 nm，可以用于对新开发近红外荧光试剂的特性的检测，有着良好的灵敏度以光谱响应。 多种光谱技术集于一身 -高灵敏度和宽范围的荧光光谱和生物发光、化学......
差热分析法DTA（差异热分析）是一种在特定环境和温度程序下测量样品和参比物温度差与温度关系的技术。它的用途包括对升华、蒸发、热分解、脱水等化学和物理变化过程中质量发生变化的测量。TG（热天平）对于样品的氧化、热分解、脱水等重量变化，以及耐热性评价和反应速度分析都非常有效。CRY-1A/2A仪器具有炉子体积小、重量轻；炉子的热容量小，升降温速率快，炉温控制精度......
差热分析法DTA（差热分析）：是一种用于测量样品和参比物温度差与温度关系的技术，通常在一定的环境和温度程序下进行。该方法可用于测量化学和物理变化中发生的升华、蒸发、热分解、脱水等质量变化。热天平TG对样品的氧化、热分解、脱水等重量变化，以及对耐热性和反应速度的分析十分有效。CRY-1A/2A仪器具有炉子体积小、重量轻、炉子热容量小、升降温速率快和炉温控制精度......
热重分析法TG（ThermoGravimetry）：在特定的温度和环境下，测量样品质量随温度或时间的变化的方法。用途：广泛应用于塑料、橡胶、涂料、药品、催化剂、无机材料、金属材料和复合材料等领域的研发、工艺优化和质量监控。RZY仪器功能及特点：- 炉子体积小、重量轻；- 炉体采用纯铂金属和高纯氧化铝，通过精确的工艺将铂铑加热丝嵌套式缠绕于炉体，使得炉子的体积......