sims二次离子质谱报价
AB SCIEX公司2011年zei新推出了SelexIONTM 技术。该技术解决了现有同类型仪器设计的不足，保留了串联质谱所有的功能，是首个获得高重现性、耐用性及易用性的离子淌度差分质谱分离技术(Differential Mobility Spectrometry, DMS)，同时还可为高灵敏度的定量与定性分析提供更多一维的选择性。DMS系统应用于T......
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统电子显微分析是材料和生命科学微观分析中zei重要的一环，而元素分析是其中zei重要的表征手段之一，但标准的分析手段如能谱仪和波谱仪存在很多不足，例如因灵敏度不足、空间分辨率较差，无法进行轻元素、微量元素的分析，无法分辨同位素等等，普通的分析手段已不能满足现阶段应用......
产品简介：飞行时间二次离子质谱仪是一种非常灵敏的表面分析技术，可以揭示表面及近表面原子层的化学组成、分析材料单层表面信息、可检测所有元素、识别有机物的结构等，可用于各种材料的高灵敏度表面分析和深度剖析。 SurfaceSeer -S是一种结构紧凑且价格合理的TOF-SIMS，用于快速检测表面化学特性。它是研究样品表面化学成分的理想选择，适用于产品研......
产品简介：飞行时间二次离子质谱仪是一种非常灵敏的表面分析技术，可以揭示表面及近表面原子层的化学组成、分析材料单层表面信息、可检测所有元素、识别有机物的结构等，可用于各种材料的高灵敏度表面分析和深度剖析。SurfaceSeer I是一种高灵敏度的飞行时间二次离子质谱仪，用于绝缘、导电表面的成像分析与化学成分分析。SurfaceSeer I是表面化学研究、研发与......
fibTOF 将聚焦离子束二次离子质谱（FIB-SIMS）灵敏 3D化学成像通过将 FIB-SIMS 功能集成到 FIB-SEM 显微镜中，fibTOF 可提供纳米尺度的精确三维化学成像。元素和同位素三维成像 对大多数元素具有高灵敏度，包括氢、锂、硼和氟等低质量元素。可实现的空间分辨率 横向小于 50 纳米，深度小于 10 纳米。明确的元素标识 质量分辨率高......