射频参数 sem
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
射频校准不再是难事!Fluke96270A射频参考标准是简单、准确和性格比高的仪器，用于校准频谱分析仪，射频功率传感器等，带宽高达27GHz。它具有信号电平和衰减准确、信号纯度高、调制低失真的特点，明显超越当前常用来校准频谱分析仪、功率传感器、衰减器和类似设备的通用信号源。它同时具有极好的相位噪声指标。不像其它射频校准设备，96270A是专门为射频校准设计的......
射频校准不再是难事!Fluke96270A射频参考标准是简单、准确和性格比高的仪器，用于校准频谱分析仪，射频功率传感器等，带宽高达27GHz。它具有信号电平和衰减准确、信号纯度高、调制低失真的特点，明显超越当前常用来校准频谱分析仪、功率传感器、衰减器和类似设备的通用信号源。它同时具有极好的相位噪声指标。不像其它射频校准设备，96270A是专门为射频校准设计的......
点击查看下载Aquilos 2 Cryo-FIBFIB-SEM赛默飞 样本相关资料，进一步了解产品。 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。核心优势:为使用 Autoloa......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......
射频微波元器件参数测试 对于射频微波链路而言，发射端一般关注发射功率、杂散、增益、交调等性能，接收端主要关注噪声系数、交调、驻波比等参数，因此这些参数即作为表征链路里的射频微波元器件性能优劣的重要依据。服务内容射频微波元器件参数测试。服务范围功率放大管（PA）、低噪声放大器（LNA）、混频器、移相器、压控衰减器、压控振荡器、射频开关、......