电子显微镜检测方法
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号，既节省了时......
Vanquish™ 方法开发 HPLC 和 UHPLC 系统货号: VQ-METHOD-DEV简化方法设置Chromeleon 数据仓库支持安全的中央数据存储Chromeleon CDS 具有可下载的 eWorkflows，可简化自动色谱柱和缓冲液定位的设置兼容软件可与 Chromeleon CDS 集成，用于加速自动方法开发Vanquish 方法......
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