scanning kelvin
新一代为大规模定量分析而设计的质谱，TripleTOF 6600+ 系统可配置的各种低流速离子源技术，从而提供灵敏而稳健的定量效果。全新设计的TOF质谱离子入口透镜，以及全新的Analyst® TF 1.8软件，提供了更好的离子流控制、检测器调谐和分窗口电离，从而降低长期使用中停机的风险。结合之前TripleTOF平台特有的快速扫描能力，SWATH®采集技术......
技术参数： 大范围高精度扫描探针显微镜 安捷伦5500LS Specifications Stage - Standard vacuum chuck size: 150 mm - Sample thickness: up to 35 mm - Ex......
大范围高精度扫描探针显微镜 安捷伦5500LS Specifications Stage - Standard vacuum chuck size: 150 mm - Sample thickness: up to 35 mm - Examinatio......
技术参数：大范围高精度扫描探针显微镜 安捷伦5500LSSpecifications Stage - Standard vacuum chuck size: 150 mm - Sample thickness: up to 35 mm - Examination area: 150 mm x 150 mm - Fully moto......
精准与可重复结果的扫描台 Leica LMT260 XY Scanning Stage您需要让您的延时实验具有高精度，如标记，并查找或进行多支井技术筛选？我们知道，每一台测微器在对 几个样品于不同的XY位置上成像时进行计数。Leica LMT260 XY扫描台对少于0.5千克的样本重量具备0.25微米的可重复性，对于1.5千克的重负荷则仍然是1微米 -......
仪器简介： VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。它是提供给电化学及材料测试以极高空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率，长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安装于定位系统上，辅助选件包......
Costech KELVIN SORPTOMETER 1042比表面积分析仪能够全自动检测完整气固吸附解吸等温曲线以及孔隙大小和分布，并且能利用各种不同的计算方法算出比表面积。该分析仪能够自动分析六个样品，自动化系统从除气开始，无需人工将样品从除气送至分析位置及液氮调整。在将样品送至分析之前，有检测器不间断地......
价格电议！！！AFM - 原子力显微镜上海伯东代理英国 NanoMagnetics AFM - 原子力显微镜, 高精度和高分辨率使其可以分析许多不同样品, AFM - 原子力显微镜可以在液体或空气中测量. 手动校准, 采用白光 LED, 亮度可调, 视野更佳. Z 噪音降至25 fm/√Hz.AFM - 原子力显微镜系统参数标准扫描模式* Inte......
主要特点 - 完全机动化的AFM，提供自动的laser-to-tip alignment以及快速启动。 - 低噪音光学记录系统。 - 真正意义上的非接触式扫描。 - 高速大范围100x100x15um 扫描器 - 先进的闭环控制 ......
Costech KELVIN SORPTOMETER 1042比表面积分析仪能够全自动检测完整气固吸附解吸等温曲线以及孔隙大小和分布，并且能利用各种不同的计算方法算出比表面积。该分析仪能够自动分析六个样品，自动化系统从除气开始，无需人工将样品从除气送至分析位置及液氮调整。在将样品送至分析之前，有检测器不间断地监控除气状态。先进的电......