leica sp8 sted 3x操作软件
图像软件给 Mac 操作平台为便利的记录和注解 Leica AcquireLeica Acquire 软件提供一个理想公用的, 容易使用, 统一的平台给基础教育, 工业和生命科学应用. 它是与Leica EZ4 HD 体视镜兼容, 和 Leica EC3, Leica ICC50 HD 和 Leica IC80 HD 数码摄像机。软件......
STED 和 STELLARIS： 重新设计超高分辨率TauSTED Xtend：锐利。简单。惊艳。TauSTED Xtend代表了STED成像技术的下一步演进。它将基于寿命的信息与额外的空间信息相结合， 可显著提高分辨率，尤其是在较低的STED损耗光强下，因而能在令人瞩目的纳米尺度上扩展多色实时成像能力。下载应用说明，详细了解TauSTED Xtend。能......
点击查看下载Leica EM TIC 3X 德国离子研磨仪 EM TIC 3X徕卡 Leica EM TIC 3X离子研磨仪相关资料，进一步了解产品。 为透射电镜/扫描电镜/生命科学/工业材料样品提高样品制备全套解决方案.徕卡纳米技术部提供：超薄切片，组织处理，高压冷冻，镀膜，临界点干燥，机械研磨抛光，离子束研磨，冷冻断裂/复型及真空环境传输等各类技术手段，......
徕卡德国 STELLARIS STED&STELLARIS 8 STED激光共聚焦 操作维修手册针对不同使用环境，有着不同的操作与维护流程，点击查看操作维修手册。 德国徕卡 STELLARIS解决方案 更快了解真实的世界STED 显微镜STELLARIS STED & STELLARIS 8 STED——我们的 STED 技术与 STELLARIS ......
激光共聚焦徕卡德国 共聚焦显微镜 工业显微镜应用-高清晰度共聚焦显微镜在薄膜表征上的应用有特定规范与标准，应用于多个行业领域。点击查看相关规范标准。 由于涂层在工程和科学领域中广泛应用，因此薄膜表征技术备受青睐。薄膜的机械、功能和几何特 性差异很大，难以找到通用的表征技术。共聚焦显微镜技术和干涉光学分析是可以用于这方面的少 数方法之一。本报告介绍如何测量各种......
Leica TCS SP8 MP徕卡德国 共聚焦显微镜 标准有特定规范与标准，应用于多个行业领域。点击查看相关规范标准。 由于涂层在工程和科学领域中广泛应用，因此薄膜表征技术备受青睐。薄膜的机械、功能和几何特 性差异很大，难以找到通用的表征技术。共聚焦显微镜技术和干涉光学分析是可以用于这方面的少 数方法之一。本报告介绍如何测量各种薄膜的厚度、残余应力、粘附力......
STELLARIS STED & STELLARIS 8 STED激光共聚焦德国 STELLARIS STED&STELLARIS 8 STED
参考成交价格： 暂无
型号：STELLARIS STED & STELLARIS 8 STED
更快地了解真实的世界，STED显微镜STELLARISSTED&STELLARIS8STED——我们的STED技术结合了STELLARIS平台，为您提供超越衍射极限的成像方法。您可以快速获得令人惊叹的图像质量和分辨率，并且保护您的样本。STED超高分辨率让您可以同时观察多个动态事件，研究细胞环境中的分子关系和机制。STED和STELLARIS无缝集成......
STELLARIS STED & STELLARIS 8 STED 激光共聚焦德国 STED 显微镜 STELLARIS STED&STELLARIS 8 STED
参考成交价格： 400万元[人民币]
型号：STELLARIS STED & STELLARIS 8 STED
更快了解真实的世界STED显微镜STELLARISSTED&STELLARIS8STED应用方向：超高分辨率成像我们的STED技术与STELLARIS平台相结合，为您整合提供超越衍射极限的成像方法以令人惊叹的图像质量和分辨率迅速获得先进的纳米显微成像，同时还保护您的样本STED超高分辨率可以让您同时观察多个动态事件，研究细胞环境中的分子关系和机制ST......
产品简介：独特宽场三离子束，以垂直于样品侧面纵向轰击样品，实现高质量无应力“切割”截面，几乎适用于各种材料。还可对样品进行离子束抛光处理。产品介绍：LeicaEMTIC3X三离子束切割仪可制备横切面和抛光表面，用于扫描电子显微镜(SEM)、微观结构分析（EDS、WDS、Auger、EBSD）和AFM科研工作。使用LeicaEMTIX 3X，您几乎可以在室温或......
产品简介：这款设备拥有独特的宽场三离子束技术，能够垂直于样品侧面进行纵向轰击，实现高质量无应力的"切割"截面，几乎适用于各种材料。同时也可以对样品进行离子束抛光处理。产品介绍：LeicaEMTIC3X三离子束切割仪可复制结果，可制备横切面和抛光表面，适用于扫描电子显微镜（SEM）、微观结构分析（EDS、WDS、Auger、EBSD）和AFM科研工作。使用Le......