布鲁克xrf 波长色散
仪器简介： 可进行固体、粉末、液体等多种样品的定性分析和无需工作曲线的FP法定量分析。在成熟的硬件上又增加了新开发的利用高次线进行的定性定量法、250 um给图功能等，进一步提高了可靠性，充实了应用。 技术参数： ●分析元素 8O ~ 92U （4Be ~ 7N选配） ●X射线管 4kW薄窗、Rh靶 ●分光器 10晶体可交换，5种狭缝可交......
波长色散X射线荧光光谱仪,可以分析固体、粉末、液体样品，可进行微量、常量化学元素进行定量和定性分析、无标样定量分析，分析范围可以从氧(8)到铀(92)，分析浓度范围从ug/g到100%，而ICP或ICPMS仪器不适合高含量元素分析。40 多年来，Rigaku Simultix 同步波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪系统已被广泛用作需要高吞吐量和精......
XRF工作原理是X射线光管发出的初级X射线照射样品，样品中原子的内层电子被激发，当外层电子跃迁时产生特征X射线，通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X射线波长（或能量）和强度，可以获得样品中的元素组成与含量信息，达到定性定量分析的目的。40 多年来，Rigaku Simultix 同步波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪系统已被广泛用作需要高吞吐量......
波长色散X射线荧光光谱技术是一种通过测量小波长范围内的特征X射线来获取有关材料的一系列元素信息的无损分析技术，具有快速、方便、测量成本低等明显优势。40 多年来，Rigaku Simultix 同步波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪系统已被广泛用作需要高吞吐量和精度的行业（例如钢铁和水泥）过程控制的元素分析工具。近 1,000 台 Simulti......
分析范围： Be - U较小的占地面积微区分析下照设计30 μm超薄窗Mapping: 元素分布He 密封:样品室一直在真空环境中ZSX PrimusRigaku ZSX Primus以各种各样的样品 - 以最低标准提供从铍（Be）到铀（U）的主要和次要原子元素的快速定量测定。功能强大，灵活可靠的元素分析作为Rigaku ZSX系列的最新仪器，ZSX Pri......
卓越的轻元素XRF表现与倒置光学为可靠性的优越ZSX Primus IV具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护，再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间。ZSX Primus IV WDXRF光谱仪具有卓越的性能和分析最复杂样品的灵活性，采用30微米的管子，这是业界最薄的终端窗口管，可提供出色的轻元素（低......
ZSX Primus/ZSX Primus IVi采用下照射方式，通过搭载无盖样品盒机构最多可装填104个样品，从而进行多个样品的连续测量。可在观察样品图像的同时进行分析位置的指定和Mapping测量。软件操作简便，即使是操作新手也可进行高水平的分析。 分析范围： Be - U较小的占地面积微区分析下照设计30 μm超薄窗Mapping: 元素分布He 密封......
理学(Rigaku)公司创建于1950年，是世界上研制和生产X射线科学分析仪器的开拓者之一，其产品涉及粉末衍射、单晶衍射、应力分析、结构解析、半导体缺陷、电池分析、X射线全反射、单道/多道WDXRF、EDXRF、3D全偏振单色EDXRF以及多种在线XRF分析仪，是世界上最大的、门类最齐全的专业X射线分析仪器生产厂。分析范围： Be - U较小的占地面积微区分......
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点击查看下载MXF-N3 Plus波散型XRF多道同时型波长色散X射线荧光光谱仪 波长色散型X射线荧光光谱仪XRF相关资料，进一步了解产品。 MXF-N3 Plus 电源保护Plus防尘设计岛津所有“无故障”高压发生器对外部电源要求较同类仪器低：-外部电压允许波动220V±10%-接地电阻十分宽泛≤30Ω独特的防尘设计 ①X射线管上照......