XRF-1800型波长色散型X射线荧光光谱仪

仪器简介：

　　可进行固体、粉末、液体等多种样品的定性分析和无需工作曲线的FP法定量分析。在成熟的硬件上又增加了新开发的利用高次线进行的定性定量法、250 um给图功能等，进一步提高了可靠性，充实了应用。

　　技术参数：

　　●分析元素 8O ~ 92U （4Be ~ 7N选配）

　　●X射线管 4kW薄窗、Rh靶

　　●分光器 10晶体可交换，5种狭缝可交换，高次线轮廓功能，超高速分析功能（300°/min）

　　●小束斑功能 分析直径500μm

　　●成象功能 表示直径250μm

主要特点：

　　可进行固体、粉末、液体等多种样品的定性分析和无需工作曲线的FP法定量分析。在成熟的硬件上又增加了新开发的利用高次线进行的定性定量法、250μm成象功能等，进一步提高了可靠性，充实了应用。

250μm微区分布成像分析功能！

XRF-1500/1700系列X射线荧光光谱仪是在世界上首先开发出微区分析/分布分析功能，并率先采用了4KW薄窗X射线管，扩大了X射线荧光分析的应用领域，作为具有开创性的仪器而得到了很高评价，业已销售200余台。
扫描型X射线荧光光谱仪 XRF-1800型从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进，使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高，增加了岛津研发的250μm微区分布成像分析功能，从而达到更高的水平。作为高灵敏度和微区分析的开拓者，岛津公司非常自信地向用户奉献出优异的XRF-1800型X射线荧光光谱仪。

 在波长色散型装置中，250μm微区分布成像分析功能

  可分析不均匀样品的含量分布、强度分布。

   
稀土元素矿石的XRF-1800成像分析实例

· 利用高次谱线进行准确的定性/定量分析（专利申请中）

高次谱线的判定更加准确，提高了定性定量分析的准确度/可靠性。

利用XRF-1800的高次谱线分析刹车片实例

· 测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法

  利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢（H）元 素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜 的信息。

使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例

· 微区分析结构
   独自开发的特殊形状的滑动式视野限制光栏，利用r方向滑动与样品旋转控制的q转动，可以在30mm直径内的任意位置进行分析。 

· 利用CCD相机可以直接观察样品（选配件）
   在测定室导入样品的位置上，将样品容器按照与测定位置相同的方式放置，通过CCD摄取样品的图像，可使测定位置与图像相吻合。
   （专利申请中） 

· 配备高可靠性、长寿命的4kW薄窗Ｘ射线管
   配备平均寿命在5年以上的高可靠性Ｘ射线管。与传统的3kWＸ射线管相比，轻元素的分析灵敏度提高2倍以上。

· 集成岛津技能精华的模块功能,匹配分析功能
   对应于液体、粉末、固体、金属、氧化物等不同形态的样品具有相应的分析条件，在这基础上可编制良好的分析条件。可根据不同材质。
   判定、品种分类、品种判定、一致性检索这4种匹配功能进行判定、检索。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途