txrf 全反射x光荧光光谱仪
吉恩纳能散型XRFTX 2000可以用在调味品行业领域，用来检测酱油，可完成Cu/Fe/Mn/Rb/Sr/Zn项目。符合多项行业标准。 酱油是东亚和东南亚地区常见的烹饪佐料，具有比较复杂的基体，包括高盐分基质（NaCl高达15％）和其他相关15％的有机组分。在之前的文献中，并无此类样品中微量元素测定的方法，同时也没有提出全反射X射线荧光（TXRF）的检测手段......
吉恩纳能散型XRFHORIZON用于测定N/A，符合行业标准。适用N/A项目。 仪器简介 TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪TX 2000适用于N/A项目，参考多项行业标准。可以检测N/A等样品。可应用于高分子材料行业领域。 TX2000 将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上，创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量，软件控制Mo/W靶可自由切换，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。应用范围TX2000 可检测从钠Na到钚Pu所有元素含......
吉恩纳能散型XRFHORIZON可用于测定环境样品，适用于含量项目。并且参考多项行业标准。可应用于环境水/废水行业领域。 TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪HORIZON用于测定液体固体，符合行业标准。适用含量项目。 TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避......
吉恩纳能散型XRFHORIZON可用于测定核材料，适用于核元素项目。并且参考多项行业标准TXRF。可应用于煤炭行业领域。 全反射X射线荧光技术(TXRF)是能量色散型X射线荧光(EDXRF)技术的高级变体，是一种相对较新的材料表征技术。与EDXRF相比，TXRF的几何改进导致检测极限提高了几个数量级。 TXRF主要用于三类应用：痕量元素分析，微观分析和深度剖......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪HORIZON用于测定河水，符合行业标准ISO 20289-2018。适用元素 V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Pb项目。 水质分析对水资源保护、合理开发及污染处理等方面有着重要作用。常见的检测手段包括ICP-MS、ICP-OES、AAS、AFS等。AFS、AAS一次只能测定一种元素，检测多个元素多采用 ICP-OES......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪TX 2000用于测定固/液体材料，符合行业标准。适用元素分析项目。 仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，......
吉恩纳能散型XRFTX 2000用于测定液体固体，符合行业标准。适用含量项目。 仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避......
吉恩纳能散型XRFTX 2000可用于测定N/A，适用于N/A项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部......