扫描双束光谱仪
TESCAN AMBER 是 TESCAN 第四代 FIB-SEM 的新成员，是一款超高分辨双束 FIB-SEM 系统，它可以提供无与伦比的图像质量，具有强大的扩展分析能力，并能以极佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作，可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。TESCAN AMBER FIB-SEM的优点：新一代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的......
TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨镓离子FIB-SEMTESCAN SOLARIS 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统，适用于超薄 TEM 样品制备和其它具有挑战性的纳米加工任务，这些任务要求设备具有zei佳的分辨率、zei先进的离子光学系统和zei好的纳米加工能力。TESCAN SOLARIS 的 Triglav™ 型 S......
[ 产品简介 ]蔡司双束电镜Crossbeam系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。该系列将场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)镜筒强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束(FIB)镜筒出色的加工能力相结合。无论是加工、成像或进行3D分析，都能在不损失精度的前提下，提高聚焦离子束的应用效率。模块化的平台概念可以进行后续系统......
产品描述：新一代的赛默飞世尔科技 Helios 5 DualBeam 具有 Helios 5 产品系列业界领先的高性能成像和分析性能。它经过精心设计，可满足材料科学研究人员和工程师对最广泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是最具挑战性的样品。Helios 5 DualBeam 重新定义了高分辨率成像的标准：最高的材料对比度，最快、最简单、最精确的高质量样品制......
对高性能、高能效电子产品的需求正在推动具有更小、更密集的功能和复杂的3D结构的先进设备的发展。这些尖端微处理器、存储器件和其他产品的产能生产极具挑战性，需要对深埋在器件内部的特征进行高分辨率、原子级分析。透射电子显微镜（TEM）正日益成为这种分析的首选技术，并依赖于通过聚焦离子束（FIB）铣削生产的高质量样品。赛默飞世尔科技Helios 5 EXL Dual......
点击查看下载扫描电镜 双束加工观察系统日本电子 样本相关资料，进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者，近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好，稳定性强且智能化程度高，操作得心应手，是材料表征和分析的绝佳选择。 JIB-4700F 双束加工观察系统随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨......
产品描述：新一代的赛默飞世尔科技Helios5DualBeam具有Helios5产品系列业界领先的高性能成像和分析性能。它是根据需求精心设计的，可满足材料科学研究人员和工程师对最广泛的FIB-SEM使用需求，即使是最具挑战性的样品。Helios5DualBeam重新定义了高分辨率成像的标准：材料对比度最高，高质量样品制备最快、最简单、最精确，用于S/TEM成......
Helios 5 DualBeam全自动、高质量、超薄 TEM 样品制备高通量、高分辨率的亚表面和 3D 表征快速纳米原型设计能力Helios 5 DualBeam用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作，简单易用，并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。新一代 Thermo Scientific Helios......
对高性能、高能效电子产品的需求正在推动具有更小、更密集的功能和复杂的3D结构的先进设备的发展。这些尖端微处理器、存储器件和其他产品的产能生产极具挑战性，需要对深埋在器件内部的特征进行高分辨率、原子级分析。透射电子显微镜（TEM）正日益成为这种分析的首选技术，并依赖于通过聚焦离子束（FIB）铣削生产的高质量样品。赛默飞世尔科技Helios 5 EXL Dual......
货号: HELIOS5CXThermo Scientific™ Helios™ 5 CX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第五代产品的一部分。它经过精心设计，以满足科学家和工程师的需求，结合了创新的 Elstar™ 电子镜筒（可实现较高分辨率成像和较高的材料对比度）与卓越的 Thermo Scientific™&......