蔡司双束电镜 Crossbeam系列

[ 产品简介 ]

蔡司双束电镜Crossbeam系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。该系列将场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)镜筒强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束(FIB)镜筒出色的加工能力相结合。无论是加工、成像或进行3D分析，都能在不损失精度的前提下，提高聚焦离子束的应用效率。模块化的平台概念可以进行后续系统升级，从而满足您不断增加的应用需求。通过加装飞秒激光（Femtosecond Laser）模块，Crossbeam的加工效率和尺度可进一步拓展，同时可以满足多种微纳加工需求。无论是在科研实验室或工业环境中工作，抑或是单用户或多用户工作环境，都能提供高质量的解决方案。

[ 产品特点 ]

1. 低电压下获得高分辨率电子图像

2. 可实现大尺寸到纳米精度的切割

3. 批量自动制备TEM薄片样品

4. Atlas 5可创建多尺度、多模式综合图像

5. ToF-SIMS 实现高通量3D成分分析

6. 独特的无漏磁电子镜筒实现真正边切边看

7. 不导电样品不受荷电效应影响

8. 加装飞秒激光模块，实现亚毫米级快速加工，同时有效避免腔室污染

   
   

[ 应用领域 ]

1. 生命科学，如断层扫描，三维重构

2. 电池领域，如组分表征

3. 半导体领域，如失效分析，电路修复

4. 金属领域，如界面分析，亚表面分析

5. 材料科学，如晶体微观结构分析，微纳图形加工

6. 透射电镜、原子探针（ATP）、EBSD、微纳力学等多种样品的原位制备

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途